[发明专利]一种储层解释评价方法及装置

说明书

本发明公开了一种储层解释评价方法及装置，包括：对异常显示层的岩石样品进行激光扫描共聚焦分析，获得激光共聚焦储层物性参数；依据激光共聚焦储层物性参数，创建综合解释数据库；在综合解释数据库中确定目标解释评价参数，并对目标解释评价参数进行标准化处理，获得处理后的参数；对处理后的参数进行绘制，获得雷达图，并计算获得雷达图的雷达覆盖指数；基于雷达覆盖指数，绘制生成云模型图；依据雷达图、雷达图对应的录井相和云模型图，分析获得储层综合解释评价结论。本发明通过对储层各参数图形展示和综合定量评价，实现了能够为储层物性评价提供更加准确的数据的目的。

技术领域

本发明涉及石油勘探开发技术领域，特别是涉及一种储层解释评价方法及装置。

背景技术

激光扫描共聚焦显微镜技术(CSLM)已经逐渐发展为最先进的高精度光学显微镜观察技术之一。该技术弥补了光学显微镜与扫描电子显微镜的不足，具有放大倍数高、分辨率高的有点。它不仅可以清晰地观察到样品表面精细的结构，而且具有一定深度的穿透力，可深入观察到样品内部深层次的结构、构造，并且可以进行分层扫描和三维立体重建。

目前，激光扫描共聚焦显微镜技术已经应用在油气储层评价方面。现有的激光共聚焦在储层物性方面的研究工作，都只是针对如何更准确地测量岩石样品的面孔率和孔隙结构参数，利用所测参数分析孔隙类型。而对于综合利用这些所测参数对储层物性进行评价的研究较少，因此，不能为储层物性评价提供更加准确的数据。

发明内容

针对于上述问题，本发明提供一种储层解释评价方法及装置，通过对储层各参数图形展示和综合定量评价，实现了能够为储层物性评价提供更加准确的数据的目的。

为了实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：

一种储层解释评价方法，包括：

对异常显示层的岩石样品进行激光扫描共聚焦分析，获得激光共聚焦储层物性参数；

依据所述激光共聚焦储层物性参数，创建综合解释数据库；

在所述综合解释数据库中确定目标解释评价参数，并对所述目标解释评价参数进行标准化处理，获得处理后的参数；

对所述处理后的参数进行绘制，获得雷达图，并计算获得所述雷达图的雷达覆盖指数；

基于所述雷达覆盖指数，绘制生成云模型图；

依据所述雷达图、所述雷达图对应的录井相和所述云模型图，分析获得储层综合解释评价结论。

可选地，所述依据所述激光共聚焦储层物性参数，创建综合解释数据库，包括：

获取创建参数，其中，所述创建参数包括储层厚度参数、渗透率参数和综合录井参数；

依据所述激光共聚焦储层物性参数和所述创建参数，创建获得综合解释数据库。

可选地，所述在所述综合解释数据库中确定目标解释评价参数，并对所述目标解释评价参数进行标准化处理，获得处理后的参数，包括：

确定目标井的储层类型；

根据所述储层类型在所述综合解释数据库中，确定目标解释评价参数；

依据目标井所在区域，对所述目标解释评价参数进行标准化处理，得到满足预设条件的标准化后数值，其中，所述预设条件为将所述目标解释评价参数变换为均值为2，方差为1的量。

可选地，所述对所述处理后的参数进行绘制，获得雷达图，并计算获得所述雷达图的雷达覆盖指数，包括：

将所述处理后的参数确定为分类轴，根据所述分类轴生成初始雷达图；

确定不同直径的评价圆，并基于所述评价圆对所述初始雷达图进行划分，得到对应的储层级别；