[发明专利]一种电容外观质量检测装置

权利要求书

1.一种电容外观质量检测装置，其特征在于，包括机架(1)、电容输送带(2)、转台(3)、分拣箱(4)和视觉检测装置，所述转台(3)和分拣箱(4)安装在所述机架(1)上，所述转台(3)的外缘均布有电磁铁(5)，所述电容输送带(2)靠近所述转台(3)设置以在所述电容输送带(2)上的电容(6)经过所述电磁铁(5)时将其吸附到电磁铁(5)上，所述视觉检测装置包括工控机(7)和与所述工控机(7)连接的多个视觉检测摄像头，所述视觉检测摄像头从多个方向朝向所述电磁铁(5)上的电容(6)设置，所述分拣箱(4)设置在转台(3)的下方以容纳从所述电磁铁(5)上落下的电容(6)。

2.根据权利要求1所述的电容外观质量检测装置，其特征在于，所述视觉检测摄像头包括顶部摄像头(8)、底部摄像头(9)和侧面摄像头(10)，所述顶部摄像头(8)设置在电容输送带(2)输入端的上方且朝向所述电容(6)的顶面，所述底部摄像头(9)设置在所述转台(3)的下方以朝向所述电容(6)的底面，所述侧面摄像头(10)设置在所述转台(3)的外缘以检测所述电容(6)的侧面。

3.根据权利要求2所述的电容外观质量检测装置，其特征在于，所述侧面摄像头(10)的数量为三个，其中一个设置在转台(3)内侧的下方，另外两个设置在所述转台(3)的外缘，所述侧面摄像头(10)相对所述电磁铁(5)上的电容(6)周向均布。

4.根据权利要求3所述的电容外观质量检测装置，其特征在于，所述电容(6)包括与电容输送带(2)接触的电容本体(11)和从所述电容本体(11)向外延伸的引脚(12)，所述电磁铁(5)的设置高度高于所述电容本体(11)且与所述电容(6)的引脚(12)相对。

5.根据权利要求4所述的电容外观质量检测装置，其特征在于，所述分拣箱(4)靠近所述电容输送带(2)的输出端设置，包括可容纳从所述电磁铁(5)上落下的电容(6)的顶部缺陷分拣箱(13)、底部缺陷分拣箱(14)、侧面缺陷分拣箱(15)和合格分拣箱(16)。

6.根据权利要求5所述的电容外观质量检测装置，其特征在于，所述底部摄像头(9)和侧面摄像头(10)通过一调整支架安装在所述机架(1)上，所述调整支架包括底座(17)、安装平台(18)、滑杆(19)和滑块(20)，所述底座(17)安装在所述机架(1)上，所述滑杆(19)插接固定在所述底座(17)上，所述滑块(20)与所述滑杆(19)套接，所述安装平台(18)固接在所述滑块(20)上，所述底部摄像头(6)和侧面摄像头(10)安装在所述安装平台(18)上。

7.根据权利要求6所述的电容外观质量检测装置，其特征在于，所述机架(1)由带安装槽(21)的型材(22)组装而成，所述底座(17)通过螺栓可调式安装在所述型材(22)上。

8.根据权利要求1-7任一所述的电容外观质量检测装置，其特征在于，所述电容输送带(2)上设置有均布的电容放置框(23)，所述转台(3)上的电磁铁(5)与所述电容放置框(23)一一对应设置。

9.根据权利要求1-7任一所述的电容外观质量检测装置，其特征在于，还包括分度开关组件，所述分度开关组件包括接近开关(24)和与所述接近开关(24)匹配的螺钉(25)，所述螺钉(25)周向均布在所述转台(3)的下方，所述接近开关(24)安装在螺钉(25)的下方，所述螺钉(25)运动到所述接近开关(24)的上方时，所述接近开关(24)控制所述转台(3)暂停转动。