[发明专利]一种聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法有效

专利信息
申请号: 201810937524.1 申请日: 2018-08-17
公开(公告)号: CN109060773B 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 莫高明;何流;黄庆;段杨鹏;陈海俊 申请(专利权)人: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主分类号: G01N21/73 分类号: G01N21/73
代理公司: 宁波元为知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33291 代理人: 单英
地址: 315201 浙江*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 硅烷 含量 简便 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法,其特征是:所述聚碳硅烷是分子结构中含有CH3SiHCH2结构单元的化合物,室温下呈固态;包括如下步骤:

(1)将聚碳硅烷样品进行热处理,使之形成凝胶体;

(2)将聚碳硅烷凝胶体与熔融的碱类化合物反应,反应温度为350-550℃,反应时间为10min-60min,得到含硅酸盐的混合物;将混合物用去离子水溶解,得到澄清溶液,用酸性物质调至溶液呈中性,然后用去离子水稀释至溶液质量为聚碳硅烷质量的105-106倍,得到待测试液;

(3)将待测试液引入电感耦合等离子体发射光谱仪中,测定硅元素的谱线强度,然后与硅元素标准工作曲线进行比对,得到待测试液中硅元素的含量,再换算为聚碳硅烷中硅元素的含量;

所述硅元素标准工作曲线的测定方法为:称取一定量的硅元素的标准溶液放入不同体积的容量瓶中,加入去离子水定容,得到一系列具有不同硅浓度的溶液,其中硅的浓度为1ppm-100ppm;将该不同硅浓度的溶液引入电感耦合等离子体发射光谱仪中进行测定,得到硅元素的谱线强度-质量分数标准工作曲线。

2.如权利要求1所述的聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法,其特征是:所述聚碳硅烷包含异质元素;所述异质元素包括铝、铁、钛、锆、钴、镍、硼、镧、钇、铌中的一种或几种。

3.如权利要求1所述的聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法,其特征是:所述的步骤(1)中,热处理温度低于聚碳硅烷样品的软化温度。

4.如权利要求3所述的聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法,其特征是:所述热处理温度为100-250℃,热处理时间为0.5h-20h。

5.如权利要求1所述的聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法,其特征是:所述的步骤(1)中,热处理时所用气体包括空气、氧气、臭氧的一种或多种。

6.如权利要求1所述的聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法,其特征是:所述的步骤(2)中,碱类化合物包括氢氧化钠、过氧化钠、碳酸钠、碳酸氢钠、氢氧化钾、过氧化钾中的一种或几种。

7.如权利要求1至6中任一权利要求所述的聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法,其特征是:所述的聚碳硅烷与碱类化合物的质量比为0.01-0.2。

8.如权利要求1至6中任一权利要求所述的聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法,其特征是:所述的酸性物质为盐酸、硝酸、硫酸中的一种或者几种。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院宁波材料技术与工程研究所,未经中国科学院宁波材料技术与工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810937524.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top