[发明专利]定位测试装置

说明书

本发明公开了一种定位测试装置，包括上部定位结构、底座及定位块，所述底座设有导向槽，所述上部定位结构包括导向件，所述定位块设有抵触定位结构，所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试，实现测试探针与待测试连接器垂直接触及转接，解决了压伤产品、损坏探针、重测率偏高等问题，双次定位降低了对零部件加工精度及组装精度的要求，降低了加工成本，方便了工人师傅的操作。

技术领域

本发明涉及电路板测试领域，尤其涉及一种定位测试装置。

背景技术

目前，在连接器测试领域，传统的设计模式为：POGOPIN模组靠连接器外形导向定位，在受力后，POGOPIN模组的探针与产品触点接触，实现信号的传输，但该测试模式存在明显的弊端：当产品连接器因为组装精度达不到，超出POGOPIN自身可适用的偏差范围后，POGOPIN会直接压到连接器外形从而导致压伤产品、损坏探针、重测率偏高和对零部件加工精度及组装精度要求极高等问题，定位不便，给测试带来麻烦。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种定位测试装置，其能解决定位不便测试麻烦的问题。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种定位测试装置，包括上部定位结构、底座及定位块，所述底座设有导向槽，所述上部定位结构包括导向件，所述定位块设有抵触定位结构，所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试。

进一步地，所述上部定位结构还包括本体，所述本体设有定位槽，所述导向件配合收容于所述定位槽。

进一步地，所述本体包括导套，所述底座还包括导柱，所述导柱配合收容于所述导套。

进一步地，所述上部定位结构还包括两个固定结构，所述固定结构包括固定板、抵触部、转动部、螺丝、转轴及弹簧，所述抵触部和所述转动部固定于所述固定板，所述抵触部通过所述螺丝可拆卸固定于所述本体，所述转动部通过所述转轴转动安装于所述本体，所述弹簧两端通过卡销分别固定于所述固定板和所述本体。

进一步地，所述底座包括四导向台，所述导向台设有倾斜面，所述上部定位结构沿所述倾斜面滑入四所述导向台之间。

进一步地，所述抵触定位结构包括第一凸起及第二凸起，所述待测试连接器配合收容于所述第一凸起及所述第二凸起之间。

进一步地，所述抵触定位结构的数量为两个，两所述抵触定位结构位于所述待测试连接器两侧。

进一步地，所述定位块还包括前端凸起及后端凸起，所述前端凸起及后端凸起分别固定于所述第一凸起及所述第二凸起之间，所述待测试连接器配合收容于所述第一凸起及所述第二凸起之间。

进一步地，所述第一凸起设有第一倾斜端面，所述第二凸起设有第二倾斜端面，所述前端凸起设有前端倾斜端面，所述后端凸起设有后端倾斜端面，所述待测试连接器抵触于所述第一倾斜端面、所述第二倾斜端面、所述前端倾斜端面及所述后端倾斜端面进行再次定位。

进一步地，所述第一倾斜端面正对所述第二倾斜端面，所述前端倾斜端面正对所述后端倾斜端面。

相比现有技术，本发明的有益效果在于：