[发明专利]待测终端及其接近传感器测试方法

说明书

本申请提供一种待测终端，包括处理器和红外接近传感器，所述处理器检测所述红外接近传感器在贴屏幕保护膜之前的功能正常时，判断所述红外接近传感器在贴屏幕保护膜之后的工程模数是否在预定范围内以得出校验结果，并将所述校验结果传送至一测试设备以允许所述测试设备根据所述校验结果确定是否对所述待测终端写入识别号，其中，所述屏幕保护膜为不对所述红外接近传感器的对应位置开孔的屏幕保护膜。本申请还提供一种接近传感器测试方法。本申请的待测终端及其接近传感器测试方法能够自动判断屏幕保护膜是否对接近传感器的功能产生影响，省时省力。

技术领域

本申请涉及待测终端测试领域，特别涉及一种待测终端及其接近传感器测试方法。

背景技术

手机的测试过程主要为：开始-FLASH烧录-钢网印刷-SMT贴片-回流焊-分板-板号写入-主板测试-主板校准-组装-整机功能测试-整机终测-外观检查-识别号写入-包装-结束。其中，整机功能测试是指手机主板已组装成整机，测试人员需通过工程测试模式配合，检查手机主要功能是否正常。工程测试模式是指利用手机软件，启动手机振铃、振动、键盘输入、音频环路、信号指示灯、显示器等单元工作，以检查该些功能是否正常。现有的接近传感器测试方法为在整机功能测试工位利用工程测试模式进行功能测试，而且，为了减少屏幕保护膜的损耗，贴膜工位设置在整机功能测试工位之后且靠近包装站。由于红外接近传感器在测试或者使用时不允许异物遮挡，屏幕保护膜也要在红外接近传感器的对应位置进行开孔。因此，在屏幕保护膜不对红外接近传感器位置进行开孔时，即使红外接近传感器在贴膜工位前的整机功能测试为正常，也无法保证贴膜后红外接近传感器的功能是否正常。

发明内容

本申请提供一种待测终端及其接近传感器测试方法，以解决上述问题。

本申请提供的一种待测终端，包括处理器和红外接近传感器，所述处理器检测所述红外接近传感器在贴屏幕保护膜之前的功能正常时，判断所述红外接近传感器在贴屏幕保护膜之后的工程模数是否在预定范围内以得出校验结果，并将所述校验结果传送至一测试设备以允许所述测试设备根据所述校验结果确定是否对所述待测终端写入识别号，其中，所述屏幕保护膜为不对所述红外接近传感器的对应位置开孔的屏幕保护膜。

本申请还提供的一种接近传感器测试方法，应用于待测终端。所述待测终端包括红外接近传感器，所述接近传感器测试方法包括步骤:检测所述红外接近传感器在贴屏幕保护膜之前的功能是否正常；在所述红外接近传感器在贴屏幕保护膜之前的功能正常时，判断所述红外接近传感器在贴屏幕保护膜之后的工程模数是否在预定范围内以得出校验结果，其中，所述屏幕保护膜为不对所述红外接近传感器的对应位置开孔的屏幕保护膜；及将所述校验结果传送至一测试设备以允许所述测试设备根据所述校验结果确定是否对所述待测终端写入识别号。

本申请提供的待测终端及其接近传感器测试方法，在检测所述红外接近传感器在贴屏幕保护膜之前的功能正常时，判断所述红外接近传感器在贴屏幕保护膜之后的工程模数是否在预定范围内以得出校验结果，并将所述校验结果传送至一测试设备以允许所述测试设备根据所述校验结果确定是否对所述待测终端写入识别号，其中，所述屏幕保护膜为不对所述红外接近传感器的对应位置开孔的屏幕保护膜。从而，能够自动判断屏幕保护膜是否对接近传感器的功能产生影响，避免人为判断造成的时间和人力的浪费，省时省力。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一实施例中的测试系统的模块示意图。

图2是本申请一实施例中的待测终端的测试过程示意图。

图3是本申请一实施例中的应用于待测终端的接近传感器测试方法的流程示意图。

具体实施方式