[发明专利]一种非接触式测量装置及测量方法

说明书

本发明公开了一种非接触式测量装置，包括架体、传感器、滑轨、激光探头、驱动装置和控制器，传感器和滑轨均固定设在架体上，激光探头滑动设在滑轨的滑块上，架体上设有放置槽，激光探头位于放置槽正上方，控制器输出控制信号进而控制驱动装置带动激光探头沿着滑轨的轴向前后移动；外界被测物件被放置在放置槽上，激光探头照射激光至外界被测物件上并形成光斑，传感器检测外界被测物件上的光斑信息并将所检测的光斑信息发送至控制器，以便控制器将所接收的光斑信息进行处理，本发明还公开了一种非接触式测量方法。其能解决现有技术中的接触式测量，导致接触式探头磨损后造成测量误差，效率低，而且对弹簧表面造成划伤，损坏弹簧的问题。

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种非接触式测量装置及测量方法。

背景技术

弹簧圈数是弹簧重要参数之一，弹簧圈数的多少直接影响弹簧的力学性能、装配要求和产品使用的可靠性，而弹簧的生产过程中，弹簧圈数变化与弹簧外径和材料的线径公差有关，对于圈数达几百圈的长弹簧，当弹簧外径和材料线径有微小变化时，长弹簧的圈数就有数圈的变化，故在生产过程中，弹簧圈数是不稳定的，为了保证此类弹簧产品的质量，在弹簧成型完成后需要对圈数进行检测。

现有技术中，通常采取以下两种方式进行测量：

1.纯手工机械式测量：由于弹簧线径是一定的，可以采取将弹簧压成密圈，通过测量总长，再反推算圈数，这种方式存在一定缺点：弹簧线径公差会造成严重的积累误差，弹簧圈数越多，测量误差越大。

2.探针式的自动化检测装置(设备)：由于弹簧圈与圈之间存在规律起伏，可以通过让细探针在弹簧上移动，使探针产生一个上下运动，通过计数弹簧的跳动次数来测量弹簧圈数，这种方式存在的缺点是：接触式测量，探针常与弹簧表面接触，探针易于磨损，磨损后造成测量误差，且由于弹簧线径不同，需要更换不同的探针和调整探针的位置，由于需要探针是上下往复运动，所以测量效率较低，另外若探针发生磨损或断裂，也会对弹簧表面造成划伤。

即现有技术中的接触式测量，导致接触式探头磨损后造成测量误差，效率低，而且对弹簧表面造成划伤，损坏弹簧。

发明内容

针对现有的缺陷，本发明实施例提供了一种非接触式测量装置。其能解决现有技术中的接触式测量，导致接触式探头磨损后造成测量误差，效率低，而且对弹簧表面造成划伤，损坏弹簧的问题。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案为：

一种非接触式测量装置，包括架体、传感器、滑轨、激光探头、驱动装置和控制器，传感器和滑轨均固定设在架体上，激光探头滑动设在滑轨上，架体上设有放置槽，并且，激光探头位于放置槽正上方，驱动装置与激光探头实现传动连接并与控制器实现电性连接，控制器输出控制信号进而控制驱动装置带动激光探头沿着滑轨的轴向前后移动；

外界被测物件被放置在放置槽上，激光探头照射激光至外界被测物件上并形成光斑，控制器与传感器电性连接，传感器检测外界被测物件上的光斑信息并将所检测的光斑信息发送至控制器，以便控制器将所接收的光斑信息进行处理。

进一步地，还包括滑块，滑块滑动设在滑轨上，滑轨位于传感器下方，激光探头固定设在滑块上；驱动装置与滑块实现传动连接；

传感器为CCD激光位移传感器。

进一步地，驱动装置包括电机和滚珠丝杆副，电机设在架体上，电机输出端与滚珠丝杆副一端连接，滚珠丝杆副另一端与滑块活动连接，电机被转动时，电机输出端通过滚珠丝杆副带动滑块沿着滑轨的轴向方向前后移动。

进一步地，还包括AD转换器，传感器、AD转换器与控制器依次电性连接，AD转换器接收由传感器所发送的光斑信息并发送至控制器。

一种非接触式测量方法，包括以下步骤：