[发明专利]一种存储系统性能测试方法、系统、装置及服务器

说明书

本申请公开了一种存储系统性能测试方法、系统、装置及服务器，将存储系统中的逻辑卷分为了高性能逻辑卷和非高性能逻辑卷，分别对应仅负责处理逻辑卷的IO任务的物理核心和同时负责处理逻辑卷的IO任务和端口的数据传输任务的物理核心，通过对高性能逻辑卷和非高性能逻辑卷分配不同的IO任务，同时分别调整高性能逻辑卷和/或非高性能逻辑卷分配的IO任务的队列深度，以令高性能逻辑卷与非高性能逻辑卷的性能数据均满足预设的阈值，测试出了存储系统的最大IOPS和带宽性能，能够对存储系统进行更准确的性能评估，提高后续研发的效率，其中，逻辑卷数量为存储系统中存储控制器的物理核心数量的整数倍，物理核心为提供数据交换资源的核心。

技术领域

本发明涉及计算机存储领域，特别涉及一种存储系统性能测试方法、系统、装置及服务器。

背景技术

在云计算、大数据时代，存储系统性能变得越发重要，传统性能测试方法使用IO测试工具对存储卷施加均等压力；由于存储卷一一对应于每个CPU核心，而存储系统的FC数据端口会占用部分CPU核心资源，导致存储卷被分配的CPU资源有差异，使得不同存储卷的实际读写性能会用差异，使用普通的性能测试方法无法测试出存储的最大IOPS和带宽性能。

因此，本发明提出一种能够测的高存储系统性能测试方法。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种存储系统性能测试方法、系统、装置及服务器，测试，能够测试出了物理核心的利用率最大化的状态。其具体方案如下：

一种存储系统性能测试方法，包括：

利用IO测试，从存储系统中的逻辑卷中划分出性能数据高于其余逻辑卷的高性能逻辑卷；

对高性能逻辑卷和所述存储系统中非高性能逻辑卷分配不同的IO任务；

调整高性能逻辑卷和/或非高性能逻辑卷分配的IO任务的队列深度，直至高性能逻辑卷与非高性能逻辑卷的性能数据均满足预设的阈值；

其中，逻辑卷数量为所述存储系统中存储控制器的物理核心数量的整数倍，物理核心为提供数据交换资源的核心。

可选的，所述利用IO测试，从存储系统中的逻辑卷中划分出性能数据高于其余逻辑卷的高性能逻辑卷的过程，包括：

对存储系统中的每个逻辑卷分配相同的IO任务；

检测所述存储系统中每个逻辑卷的性能数据；

利用预设的筛选条件和每个逻辑卷的性能数据，将满足所述筛选条件的逻辑卷划分为高性能逻辑卷。

可选的，所述对高性能逻辑卷和所述存储系统中非高性能逻辑卷分配不同的IO任务的过程，包括：

对每个非高性能逻辑卷分配低深度IO任务，对每个高性能逻辑卷分配高深度IO任务。

可选的，所述对高性能逻辑卷和所述存储系统中非高性能逻辑卷分配不同的IO任务的过程，包括：

对所述存储系统中所有逻辑卷分配基础IO任务；

额外对每个高性能逻辑卷分配附加IO任务。

可选的，所述调整高性能逻辑卷和/或非高性能逻辑卷分配的IO任务的队列深度的过程，包括：

调整所述附加IO任务的队列深度和/或所述基础IO任务的队列深度。

本发明还公开了一种存储系统性能测试系统，包括：

划分模块，用于利用IO测试，从存储系统中的逻辑卷中划分出性能数据高于其余逻辑卷的高性能逻辑卷；

任务分配模块，用于对高性能逻辑卷和所述存储系统中非高性能逻辑卷分配不同的IO任务；