[发明专利]一种存储系统性能测试方法、系统、装置及服务器

权利要求书

1.一种存储系统性能测试方法，其特征在于，包括：

利用IO测试，从存储系统中的逻辑卷中划分出性能数据高于其余逻辑卷的高性能逻辑卷；

对高性能逻辑卷和所述存储系统中非高性能逻辑卷分配不同的IO任务；

调整高性能逻辑卷和/或非高性能逻辑卷分配的IO任务的队列深度，直至高性能逻辑卷与非高性能逻辑卷的性能数据均满足预设的阈值，得到所述存储系统的最大IOPS和带宽性能；

其中，逻辑卷数量为所述存储系统中存储控制器的物理核心数量的整数倍，物理核心为提供数据交换资源的核心。

2.根据权利要求1所述的存储系统性能测试方法，其特征在于，所述利用IO测试，从存储系统中的逻辑卷中划分出性能数据高于其余逻辑卷的高性能逻辑卷的过程，包括：

对存储系统中的每个逻辑卷分配相同的IO任务；

检测所述存储系统中每个逻辑卷的性能数据；

利用预设的筛选条件和每个逻辑卷的性能数据，将满足所述筛选条件的逻辑卷划分为高性能逻辑卷。

3.根据权利要求1所述的存储系统性能测试方法，其特征在于，所述对高性能逻辑卷和所述存储系统中非高性能逻辑卷分配不同的IO任务的过程，包括：

对每个非高性能逻辑卷分配低深度IO任务，对每个高性能逻辑卷分配高深度IO任务。

4.根据权利要求1所述的存储系统性能测试方法，其特征在于，所述对高性能逻辑卷和所述存储系统中非高性能逻辑卷分配不同的IO任务的过程，包括：

对所述存储系统中所有逻辑卷分配基础IO任务；

额外对每个高性能逻辑卷分配附加IO任务。

5.根据权利要求4所述的存储系统性能测试方法，其特征在于，所述调整高性能逻辑卷和/或非高性能逻辑卷分配的IO任务的队列深度的过程，包括：

调整所述附加IO任务的队列深度和/或所述基础IO任务的队列深度。

6.一种存储系统性能测试系统，其特征在于，包括：

划分模块，用于利用IO测试，从存储系统中的逻辑卷中划分出性能数据高于其余逻辑卷的高性能逻辑卷；

任务分配模块，用于对高性能逻辑卷和所述存储系统中非高性能逻辑卷分配不同的IO任务；

测试模块，用于调整高性能逻辑卷和/或非高性能逻辑卷分配的IO任务的队列深度，直至高性能逻辑卷与非高性能逻辑卷的性能数据均满足预设的阈值，得到所述存储系统的最大IOPS和带宽性能；

其中，逻辑卷数量为所述存储系统中存储控制器的物理核心数量的整数倍，物理核心为提供数据交换资源的核心。

7.根据权利要求6所述的存储系统性能测试系统，其特征在于，所述任务分配模块，包括：

基础任务分配单元，用于对所述存储系统中所有逻辑卷分配基础IO任务；

附加任务分配单元，用于额外对每个高性能逻辑卷分配附加IO任务。

8.根据权利要求7所述的存储系统性能测试系统，其特征在于，所述测试模块，具体用于调整所述附加IO任务的队列深度和/或所述基础IO任务的队列深度，直至高性能逻辑卷与非高性能逻辑卷的性能数据均满足所述阈值。

9.一种服务器，其特征在于，包括：

存储器，用于存储存储系统性能测试程序；

处理器，用于执行所述存储系统性能测试程序以实现如权利要求1至5任一项所述的存储系统性能测试方法。

10.一种存储系统性能测试装置，其特征在于，包括存储系统和如权利要求9所述的服务器；

所述存储系统包括存储控制器和仅用于存储数据的存储设备。