[发明专利]一种标记识别装置、方法及假压对位设备

说明书

本申请涉及工艺设备技术领域，尤其涉及一种标记识别装置、方法及假压对位设备，用以解决现有技术中无法准确识别标记的问题。该标记识别装置主要包括：至少一个图像采集机构，以及至少一个第一光源；所述第一光源用于向第一基板的标记区域发出照射光线，所述照射光线的一部分被所述标记区域的标记遮挡，而在所述图像采集机构上产生正投影，所述照射光线的另一部分垂直透射至所述图像采集机构；所述图像采集机构用于根据采集到的所述正投影以及透射光线来识别所述第一基板中的标记。避免了现有技术中通过反射方式识别标记时由于凹凸点存在反射光线偏离而导致识别到标记不准确的问题，提升标记识别准确性。

技术领域

本申请涉及工艺设备技术领域，尤其涉及一种标记识别装置、方法及假压对位设备。

背景技术

现有技术中，在将柔性电路板FPC邦定到屏体基板上时，主要通过假压对位的方式实现。

目前，在假压对位操作之前，需要利用电耦合元件CCD图像采集设备来识别FPC或是屏体基板上用于对位的标记。但是，考虑到屏体基板薄化后表面会分布有大量凹凸点，这些凹凸点会影响光线在标记处的反射，造成不同程度的折射，进而，导致CCD图像采集设备采集到的标记的图像发生偏离或是变形，无法准确识别标记。

发明内容

本申请实施例提供一种标记识别装置、方法及假压对位设备，用以解决现有技术中无法准确识别标记的问题。

为了解决上述技术问题，本申请实施例采用下述技术方案：

一种标记识别装置，包括：至少一个图像采集机构，以及至少一个第一光源；其中，

所述第一光源用于向第一基板的标记区域发出照射光线，所述照射光线的一部分被所述标记区域的标记遮挡，而在所述图像采集机构上产生正投影，所述照射光线的另一部分垂直透射至所述图像采集机构；

所述图像采集机构用于根据采集到的所述正投影以及透射光线来识别所述第一基板中的标记。

可选地，所述第一光源设置在所述图像采集机构的正上方；

所述照射光线垂直照射在所述标记区域上，所述照射光线的另一部分穿过所述标记区域的透明区域并垂直透射至所述图像采集机构。

可选地，所述标记识别装置还包括：光学补偿模块；

所述照射光线入射至所述光学补偿模块，经过所述光学补偿模块的补偿处理后的光线穿过所述标记区域的透明区域并垂直透射至所述图像采集机构。

可选地，所述第一光源设置在所述图像采集机构的侧上方；

所述照射光线倾斜入射在所述标记区域上，所述照射光线的另一部分经所述第一基板表面贴附的导电胶散射产生均匀光线，所述均匀光线穿过所述标记区域的透明区域并垂直透射至所述图像采集机构。

可选地，所述标记识别装置还包括：

设置在所述图像采集机构上的至少一个第二光源，所述第二光源用于在对第二基板的标记进行识别时，垂直照射在所述第二基板的标记区域。

可选地，所述第一光源为同轴光源或集射光源。

可选地，所述标记识别装置还包括：用于承载所述第一光源的光源承载部；

所述第一光源固定设置在所述光源承载部上；或，

所述第一光源通过移动机构可移动设置在所述光源承载部上。

可选地，所述第一光源的个数与所述第一基板中的标记的个数相同；

每个第一光源用于照射对应的一个标记。

一种标记识别方法，包括：