[发明专利]用于坐标测量机的自配置部件识别和信号处理系统有效
| 申请号: | 201810695030.7 | 申请日: | 2018-06-29 |
| 公开(公告)号: | CN109211155B | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
| 发明(设计)人: | S.E.亨明斯 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
| 主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 葛飞 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 坐标 测量 配置 部件 识别 信号 处理 系统 | ||
1.一种测量系统,包括主电子系统、至少一个可互换的测量探针以及包括至少一个构件SC-MPIC的一组自配置测量探针接口电路板(SC-MPIC),其中,每个构件SC-MPIC配置为连接到所述主电子系统并且是用于与兼容测量探针一起操作的兼容匹配,并且每个构件SC-MPIC包括:
本地信号处理和控制电路(LSPC电路),其包括探针识别匹配部分、探针信号处理部分和板间信号管理器;
上方连接器,其配置为连接到沿着从该SC-MPIC朝向所述测量探针的上方延伸的兼容连接;以及
下方连接器,其配置为连接到沿着从该SC-MPIC远离所述测量探针的下方延伸的兼容连接;
其中:
每个构件SC-MPIC配置为用于其上方连接器以电连接到以下中的至少一个:a)连接到测量或检查机器的可互换的测量探针,以及b)设置在下一个上方构件SC-MPIC上的下方连接器;
每个构件SC-MPIC配置为用于其下方连接器以电连接到设置在下一个下方构件SC-MPIC上的上方连接器;
每个构件SC-MPIC配置为在其上方连接器上产生较低板存在信号,其表示它将作为相对于位于上方的任何其他SC-MPIC的较低SC-MPIC而操作;
每个构件SC-MPIC配置为在其下方连接器上产生较高板存在信号,其表示它将作为相对于位于下方的任何其他SC-MPIC的较高SC-MPIC而操作;
每个构件SC-MPIC配置为响应于在其上方连接器上存在或不存在较高板存在信号,确定其是否是沿着上方的最高SC-MPIC;
每个构件SC-MPIC配置为响应于在其下方连接器上存在或不存在较低板存在信号,确定其是否是沿着下方的最低SC-MPIC;并且
每个构件SC-MPIC配置为响应于由连接的测量探针提供或确定的探针识别信号来执行相应的一组测量探针识别匹配操作,并且如果它是最高SC-MPIC,则是任何连接的SC-MPIC中的第一个执行其相应的一组测量探针识别匹配操作。
2.根据权利要求1所述的测量系统,其中:
每个构件SC-MPIC还配置为使得如果其相应的一组测量探针识别匹配操作表示它是连接的测量探针的兼容匹配,则该SC-MPIC在至少其下方连接器上产生探针控制获取信号,这表示它将是与连接的测量探针一起操作的SC-MPIC。
3.根据权利要求2所述的测量系统,其中:
每个构件SC-MPIC配置为使得如果其相应的一组测量探针识别匹配操作表示它不是连接的测量探针的兼容匹配,则该构件SC-MPIC在其下方连接器上和其上方连接器上都产生探针控制获取信号,这表示它将是与连接的测量探针一起操作的SC-MPIC;并且
每个构件SC-MPIC配置为使得如果其在其下方连接器或其上方连接器中的一个处接收探针控制获取信号,则其将该探针控制获取信号提供给在其下方连接器或其上方连接器中的另一个处的任何构件SC-MPIC。
4.根据权利要求2所述的测量系统,其中:
每个构件SC-MPIC配置为在其上方连接器处连接到所连接的测量探针的一组测量探针连接,该组测量探针连接配置为在构件SC-MPIC与连接的测量探针之间至少传送探针测量信号、探针电源以及探针识别信号;以及
每个构件SC-MPIC还配置为至少在对应于其在其下方连接器或其上方连接器中的一个处接收探针控制获取信号的操作模式期间连接到在其上方连接器和其下方连接器之间的一组测量探针连接。
5.根据权利要求4所述的测量系统,其中:
每个构件SC-MPIC还配置为至少在对应于其在其下方连接器或其上方连接器中的一个处接收探针控制获取信号的操作模式期间将其内部电路与该组测量探针连接的至少一个子组隔离。
6.根据权利要求4所述的测量系统,其中:
每个构件SC-MPIC还配置为至少在对应于该SC-MPIC产生探针控制获取信号的操作模式期间在其上方连接器和其下方连接器之间将该组测量探针的至少一个子组断开;并且
断开的子组包括配置为传送探针电源的连接。
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