[发明专利]一种数据处理方法及其装置、介质

权利要求书

1.一种数据处理方法，其特征在于，应用于显示面板中，所述显示面板包括：M×N阵列排列的像素，包括：

获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；其中，所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压，相邻n列包括：第j-n+1列、…….、第j-1列和第j列，n-1<j≤N，1≤n≤N；

根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常，其中，m-1<i≤M，1<m<M；

若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值；

所述根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括：

根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，计算得到特征值；

根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常；

所述对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理包括：

将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为所述特征值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电压数据包括：像素对应的驱动晶体管的源极电压。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述特征值为平均值或者加权平均值。

4.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，所述根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括：

判断第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值是否大于第二阈值差值，若第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值大于第二阈值差值，则第i行第j列的像素对应的电压数据异常。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二阈值差值为特征值的K倍，其中，0.1≤K≤0.2。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

存储修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数据。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据修改后的第i行第j列的像素对应的电压数据对第i行第j列的像素进行补偿。

8.一种数据处理装置，其特征在于，应用于显示面板中，所述显示面板包括：M×N阵列排列的像素，包括：

获得模块，用于获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；其中，所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压，相邻n列包括：第j-n-1列、…….、第j-1列和第j列，n-1<j≤N，1≤n≤N；

判断模块，用于根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常，其中，m-1<i≤M，1<m<M；所述判断模块具体用于根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，计算得到特征值；根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常；

滤波模块，用于若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值；所述滤波模块，用于将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为所述特征值。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，还包括：m-1个存储模块；

其中，第k个存储模块，用于存储第i-m+k行相邻n列的像素对应的电压数据，1≤k≤m-1。