[发明专利]静电压测量装置和静电压测量方法

说明书

本发明提供能够精度良好地测量显示面板的表面的静电压的静电压测量装置和静电压测量方法。静电压测量装置(1)包括保持部(11)、剥离机构(12)、以及测量器(13)。保持部(11)保持显示面板(2)。剥离机构(12)通过使保持部(11)沿预定的移动方向(D1)移动来使保护薄膜(22)自显示面板(2)的表面(21)剥离。测量器(13)在比自显示面板(2)的表面(21)剥离保护薄膜22的位置(剥离位置(P))靠移动方向(D1)的下游侧处，以与显示面板(2)的表面(21)相对的方式固定于规定位置，并测量表面(21)的静电压。

技术领域

本发明涉及用于测量在将贴合于显示面板的表面的保护薄膜剥离时的静电压的静电压测量装置和静电压测量方法。

背景技术

在显示装置所使用的液晶面板、有机EL(Electro Luminescence：电致发光)面板等显示面板上，通常，为了保护其表面而贴合有保护薄膜。显示面板是在贴合有保护薄膜的状态下输送的，在制成显示装置之后，自显示面板的表面剥离保护薄膜。

在这种显示面板中安装有很多电气部件。例如，在液晶显示面板中设有TFT(ThinFilm Transistor：薄膜晶体管)、用于驱动TFT的驱动器IC(Integrated Circuit：集成电路)等。因此，在使保护薄膜自显示面板的表面剥离时，存在TFT、驱动器IC等电气部件因在显示面板的表面产生的静电压而被破坏的风险。

因此，提出一种保护薄膜剥离装置，该保护薄膜剥离装置能够通过利用静电检测部来检测显示面板的表面电位并根据检测出的表面电位来控制保护薄膜的剥离速度，从而防止面板表面的表面电位上升(例如参照下述专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2008－51906号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，在上述专利文献1所公开的那样的结构中，静电检测部配置于显示面板的与保护薄膜被剥离的一侧的面相反的那一侧。因此，存在无法准确地测量显示面板的保护薄膜被剥离的一侧的面的静电压这样的问题。

另外，在上述专利文献1所公开的那样的结构中，具有用于使静电检测部移动的第1移动部，一边利用该第1移动部使静电检测部移动一边进行静电压的测量。因此，存在静电检测部与显示面板之间的距离容易产生偏差而使测量精度进一步变差这样的问题。

本发明是鉴于上述情况而做出的，其目的在于，提供能够精度良好地测量显示面板的表面的静电压的静电压测量装置和静电压测量方法。

用于解决问题的方案

(1)本发明提供一种静电压测量装置，其用于测量在将贴合于显示面板的表面的保护薄膜剥离时的静电压，其中，该静电压测量装置包括保持部、剥离机构、以及测量器。所述保持部保持所述显示面板。所述剥离机构通过使所述保持部沿预定的移动方向移动来使所述保护薄膜自所述显示面板的表面剥离。所述测量器在比自所述显示面板的表面剥离所述保护薄膜的位置靠所述移动方向的下游侧处，以与所述表面相对的方式固定于规定位置，并测量所述表面的静电压。

采用这样的结构，通过使保持显示面板的保持部沿预定的移动方向移动，从而自显示面板的表面剥离保护薄膜。由此，能够一边将自显示面板的表面剥离保护薄膜的位置(剥离位置)保持为恒定一边剥离保护薄膜。因而，通过以使测量器不移动并与比剥离位置靠下游侧的位置相对的方式将测量器固定在规定位置，能够精度良好地测量显示面板的保护薄膜被剥离的那一侧的面的静电压。