[发明专利]一种半径测量装置及半径测量方法

权利要求书

1.一种半径测量装置，其特征在于，包括：

一水平设置的固定支架，所述固定支架具有贯穿其上下表面的通孔，所述通孔位于所述固定支架的中间位置，所述固定支架的两端垂直设置有固定测杆；

还包括一弦高千分尺，所述弦高千分尺垂直安装于所述通孔中,所述弦高千分尺包括挡帽和测微螺杆，所述挡帽外圆柱面上有滚花纹路，所述测微螺杆穿过所述通孔，与所述固定测杆抵接在待测弧面上。

2.根据权利要求1所述的半径测量装置，其特征在于，所述测微螺杆的上端是细牙螺杆，下端是测头，所述测微螺杆上还设置有螺孔，所述固定测杆的下端设置有球头，所述测头与所述球头抵接在待测弧面上。

3.根据权利要求2所述的半径测量装置，其特征在于：还包括螺纹套筒和微分筒，所述螺纹套筒是空心轴，所述测微螺杆穿过所述螺纹套筒,所述微分筒套设在所述螺纹套筒上，所述螺纹套筒的外圆柱面上沿轴线方向有主尺刻度，所述微分筒的外圆周上有副尺刻度。

4.根据权利要求3所述的半径测量装置，其特征在于：还包括锁紧螺钉和调整螺钉，所述锁紧螺钉依次穿过所述固定支架和所述螺纹套筒，抵接在所述测微螺杆的所述螺孔内,所述固定支架上设置有导向座，所述导向座与所述通孔相通，所述调整螺钉穿过所述导向座，抵接在螺纹套筒上。

5.一种半径测量方法，采用权1-4任一项所述的半径测量装置，其特征在于：包括以下步骤：

a、选择不同弦长的固定支架，将弦高千分尺安装在所述固定支架的通孔中，；

b、组装成半径测量装置，校准；

c、将固定测杆抵接在待测弧面上；调节挡帽，使测微螺杆抵接在待测弧面上，拧紧锁紧螺钉；

d、读取弦高尺寸，获得圆弧半径值。

6.根据权利要求5所述的半径测量方法，其特征在于：所述步骤(a)中所述固定支架的弦长为30mm、60mm、100mm、150mm中的一个，所述固定支架上标识该固定支架的可测量半径范围，所述半径测量装置可测量半径范围为R25～R500。

7.根据权利要求5所述的半径测量方法，其特征在于：所述步骤(b)的校准方法为：

b1、调节弦高千分尺高度，使所述测微螺杆的测头与所述固定测杆的球头抵接在同一个平面上，弦高千分尺的读数为12.000mm；

b2、用标准量块校准弦高千分尺，使弦高千分尺读数对应的半径与所述校准量块的半径一致。

8.根据权利要求5所述的半径测量方法，其特征在于：所述步骤(d)中获取圆弧半径值是读取弦高半径读数表或通过半径计算公式计算。

9.根据权利要求8所述的半径测量方法，其特征在于：所述半径计算公式是：

。

10.根据权利要求5-9任一项所述的半径测量方法，其特征在于：还包括：

e、所述半径测量装置放置和/或使用后，再次校准。然后重复步骤(c)和(d)。