[发明专利]基于电光折射和离散化微信号的电场性能测量方法及装置在审
申请号: | 201810600404.2 | 申请日: | 2018-06-12 |
公开(公告)号: | CN109030962A | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 赵海宝;姚宇平;郭链;何毓忠;胡露钧;马湖刚;王飞燕 | 申请(专利权)人: | 浙江菲达环保科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/12 | 分类号: | G01R29/12 |
代理公司: | 杭州慧亮知识产权代理有限公司 33259 | 代理人: | 秦晓刚 |
地址: | 311800 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电场 电流均匀性 空间位置 离散化 场强测量 场强矢量 电流分布 性能测量 电光 铜片 测量 信号切换系统 折射 数据处理器 测量单元 测量装置 传输元件 电除尘器 电光晶体 空间电场 能量分布 稳定性强 系统组成 性能测试 发生器 测量光 垂直的 偏振器 阳极板 有效地 除尘 检偏 偏光 分解 | ||
1.基于电光折射和离散化微信号的电场性能测量方法,其特征在于:包括以下步骤:
A、测量空间位置场强,具体步骤为:
A1、由测量光发生器发射的一束固定波长的直线偏振光,经偏振器后照射穿过布置在已知场强空间内的晶体后,偏振光分解为相互垂直的m光和n光,m光和n光形成相位差,并依次穿过四分之一波片和检偏器,通过检偏器捕捉m光和n光,并测量光功率W;
A2、依照以下公式,通过已知场强测量标定并获得修正系数r,通过测量折射光光功率计算获得晶体所在空间位置场强大小值;
W=2rπη3EL/λ
其中W为光功率,r为修正系数,η为寻常光折射率,E为场强大小,L为晶体的通光长度,λ为测量光光波波长;
A3、对空间位置场强大小分布对比,得到空间位置的场强矢量;
B、测量版电流均匀性,具体步骤为:
B1、分别在电场内各自空间电流通道的阳极板上设置测量铜片;
B2、每个测量铜片的电流通过三轴电缆传输到接地极,信号切换系统逐个将各测量铜片传来的电流信号切换到皮安表电路,由皮安表测得电流值,并传输到数据处理器,从而获得阳极板电流分布;
C、根据步骤A获得的空间位置场强矢量分布对比和步骤B获得的板电流分布对比,得到空间位置的电场有效除尘能量分布。
2.如权利要求1所述的基于电光折射和离散化微信号的电场性能测量方法,其特征在于:测量空间位置场强时,折射率标定和测量均在同一温度下进行,温度偏差在1℃以内。
3.基于电光折射和离散化微信号的电场性能测量装置,其特征在于:包括板电流均匀性测量装置和空间场强测量装置;
所述板电流均匀性测量装置包括:
测量铜片,用于捕集流向阳极板的离散单元电流,以及,
传输元件,用于传输测量铜片捕集的皮安级电流信号,以及,
信号切换系统,用于无损切换测量单元,以及,
皮安表,用于测量皮安级电流信号,以及,
数据处理器,用于对测量数据进行归类和计算,所述测量铜片、信号切换系统、皮安表和数据处理器通过传输元件依次连接;
所述空间场强测量装置包括:
测量光发生器,用于产生一束直线传播的激光,以及,
偏振器,用于将激光束偏振,以及,
电光晶体,用于将偏振光分解为相互垂直的m光和n光,m光和n光形成相位差,以及,
检偏系统,所述检偏系统包括四分之一波片和检偏器,用于捕捉偏振光分解的m光和n光的自聚焦透镜,并测量m光和n光的光功率。
4.如权利要求3所述的基于电光折射和离散化微信号的电场性能测量装置,其特征在于:所述检偏器为格兰汤姆棱镜。
5.如权利要求3所述的基于电光折射和离散化微信号的电场性能测量装置,其特征在于:所述电光晶体通过绝缘细绳或绝缘细杆悬挂固定于测量单元内。
6.如权利要求3所述的基于电光折射和离散化微信号的电场性能测量装置,其特征在于:所述四分之一波片材料为石英波片。
7.如权利要求3所述的基于电光折射和离散化微信号的电场性能测量装置,其特征在于:所述测量铜片为长度宽度厚度分别为3cm、1cm、2mm且贴在阳极板上,测量铜片与阳极板之间通过绝缘膜绝缘,相邻测量铜片之间间隔距离为2cm。
8.如权利要求3所述的基于电光折射和离散化微信号的电场性能测量装置,其特征在于:所述信号切换系统包括继电器和逻辑矩阵,在每次切换测量线路之前和之后均先将输入线路接地后,再断开原测量线路。
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