[发明专利]有源器件偏置参数确定方法、装置、存储介质及电子设备

说明书

本申请实施例公开了有源器件偏置参数确定方法、装置、存储介质及电子设备。其中方法包括：获取待测试设备中的有源器件在当前频段或频点的偏置参数范围，并在所述偏置参数范围中确定至少两个测试偏置参数；依次根据所述至少两个测试偏置参数设置所述待测试设备中的有源器件，并确定对应的线性度测试值；根据所述线性度测试值和预先设置的线性度阈值确定所述当前频段或频点的目标偏置参数。本申请实施例通过采用上述技术方案，对每一个待检测设备在多个测试偏置参数下进行线性度测试，根据线性度测试反馈的线性度测试值，确定每一个待测试设备的有源器件的目标偏置参数，保证了每一个待测试设备的良好性能，解决了同一种设备的有源器件应用同一组偏置参数导致的性能差异问题，提高了设备性能的一致性。

技术领域

本申请实施例涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种有源器件偏置参数确定方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

在诸如手机、手表以及平板电脑等电子设备中，均设置有有源器件，例如放大器。有源器件是内部设有电源的电子器件，一般用来对信号的放大或转换，其对线性度的要求高。

影响有源器件线性度的参数主要是偏置参数，例如偏置电压和偏置电流，目前对于有源器件的偏置电压和偏置电流一般是通过如下方式设置：一是通过对每一个频段设置一组偏置电压和偏置电流，二是通过对频段中各频点设置一组偏置电压和偏置电流。示例性的，参见图1a和图1b，图1a为相关技术中对各频段设置偏置参数的示意图；图1b为相关技术中对各频点设置偏置参数的示意图。其中，图1a中频段1的偏置参数为A，频段2的偏置参数为B，频段3的偏置参数为C，频段4的偏置参数为D。同理，图1b中各频点的偏置参数以此类推。且上述图1a和图1b中设置的偏置参数应用于同一类型的所有电子设备中的对应有源器件。

上述两种偏置参数的设置方式，均是对同一种电子设备中的同一种有源器件设置同一组偏置参数，但是由于各电子设备中的有源器件之间存在差异，同一组偏置参数会导致电子设备的性能存在差异，影响电子设备性能的一致性。

发明内容

本申请实施例提供有源器件偏置参数确定方法、装置、存储介质及电子设备，实现针对性地确定每一个电子设备中有源器件的准确偏置参数，提高电子设备性能的一致性。

第一方面，本申请实施例提供了一种有源器件偏置参数确定方法，包括：

获取待测试设备中的有源器件在当前频段或频点的偏置参数范围，并在所述偏置参数范围中确定至少两个测试偏置参数；

依次根据所述至少两个测试偏置参数设置所述待测试设备中的有源器件，并确定对应的线性度测试值；

根据所述线性度测试值和预先设置的线性度阈值确定所述当前频段或频点的目标偏置参数。

第二方面，本申请实施例提供了一种有源器件偏置参数确定装置，包括：

测试偏置参数确定模块，用于获取待测试设备中的有源器件在当前频段或频点的偏置参数范围，并在所述偏置参数范围中确定至少两个测试偏置参数；

线性度测试值确定模块，用于依次根据所述至少两个测试偏置参数设置所述待测试设备中的有源器件，并确定对应的线性度测试值；

目标偏置参数确定模块，用于根据所述线性度测试值和预先设置的线性度阈值确定所述当前频段或频点的目标偏置参数。

第三方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本申请实施例所述的有源器件偏置参数确定方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本申请实施例所述的有源器件偏置参数确定方法。