[发明专利]一种IGBT芯片矩阵模型自动生成方法及系统在审

专利信息
申请号: 201810546483.3 申请日: 2018-10-08
公开(公告)号: CN108897915A 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 李金元;陈中圆;潘艳;温家良;孙帅;刘先正 申请(专利权)人: 全球能源互联网研究院有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 102209 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 矩阵模型 自动生成 特性参数 矩阵 芯片 电路元件 连接关系 模型读取 手动建模 信息采集 应用程序 专用程序 均流 配置 出错 封装 摆放 验证 重复 劳动 开发
【说明书】:

发明提供一种IGBT芯片矩阵模型自动生成方法及系统,包括:获取IGBT芯片矩阵模板中IGBT芯片结构及连接关系建立IGBT芯片模型;通过IGBT芯片模板中的信息采集模型读取所述IGBT芯片模板中各电路元件的特性参数;基于所述特性参数对所述IGBT芯片模型进行配置;对配置后的IGBT芯片模型进行封装,生成IGBT芯片矩阵模型。本发明提供的技术方案实现了上百个芯片的自动摆放,节省了大量的时间的精力,芯片的自动生成代替了工作中大量的重复人工劳动,解决了手动建模容易出错的问题,同时开发了专用程序,IGBT芯片矩阵模型通过应用程序实现了IGBT内部均流特性的快速验证。

技术领域:

本发明涉及电力电子和功率半导体领域,具体涉及一种IGBT芯片矩阵模型自动生成方法及系统。

背景技术:

大功率IGBT模块通常由几个到上百个参数基本一致的IGBT芯片以及二极管组成,这些通过IGBT和二极管芯片并联以实现容量提升的方案,是设计大电流功率器件的通用方式。理论上讲,每次通电过程中每个IGBT芯片通过的电流应该都是一样的,但在实际设计过程中,由于IGBT内部参数以及线路参数的细微差别,加之封装型式、散热特性等造成的集肤效应等会对芯片通电过程产生影响,导致IGBT芯片之间通过的电流存在差异。在极端情况下,甚至会出现部分芯片通过的电流非常大,造成IGBT器件内部局部过热而降低可靠性。因此需要在设计初期通过仿真手段对IGBT内部芯片并联特性及寄生参数进行研究,以优化IGBT内部的电气及结构设计,确保IGBT芯片和二极管在通电过程中实现均流。

为正确、快速的建立等效电路模型,如果采用传统绘制电路原理图建模的方式将是一项浩大的工程,不仅需要手动摆放上百个芯片模型、寄生电路模型,连线,更要依次设置其参数,这无疑需要投入大量的时间和精力,同时又由于是人工绘制,在绘制过程中容易出错,使建模过程耗费过多人力。

发明内容:

为了克服上述缺陷,本发明提供了一种IGBT芯片矩阵模板,所述IGBT芯片矩阵模板包括IGBT芯片、以及设置于所述IGBT芯片上的信息采集模型;

所述信息采集模型用于采集IGBT芯片的电路特性参数。

优选的,所述信息采集模型,包括:电阻模型、寄生参数模型、电容和电流传感器;

所述IGBT芯片模型的C极、G极和E极分别连接所述电阻模型之后与对应电极的所述寄生参数模型连接;

所述电阻模型,用于模拟IGBT芯片的C极、G极和E极的端口;

所述寄生参数模型,用于模拟IGBT芯片的寄生电感和寄生互感的特性;

所述电流传感器与IGBT芯片的E极连接,用于获取IGBT芯片的电流;

所述电容与IGBT芯片的C极和E极连接,用于模拟IGBT芯片的C极和E极寄生电容。

优选的,所述电阻模型,包括:

与所述IGBT芯片模型C极连接第一压接电阻;

与所述IGBT芯片模型G极连接第二压接电阻;

与所述IGBT芯片模型E极连接第三压接电阻。

优选的,所述寄生参数模型,包括:寄生电感、寄生电阻和寄生电容;

与所述IGBT芯片模型C极连接第一寄生电感、第一寄生电阻和第一寄生电容,之后与所述第一压接电阻连接;

与所述IGBT芯片模型G极连接的第二寄生电感、第二寄生电阻和第二寄生电容,之后与所述第二压接电阻连接;

与所述IGBT芯片模型E极连接的第三寄生电感、第三寄生电阻和第三寄生电容,之后与所述第三压接电阻连接。

一种IGBT芯片矩阵模型自动生成方法,所述方法包括:

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