[发明专利]一种PET电子学数据处理方法及PET电子学系统有效

专利信息
申请号: 201810469097.9 申请日: 2018-05-16
公开(公告)号: CN108665972B 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 周魏;黄先超;李道武;丰宝桐;王培林;胡婷婷;李晓辉;卢贞瑞;章志明;魏存峰;魏龙 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G16H40/63 分类号: G16H40/63;G16H40/40;A61B6/03
代理公司: 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 代理人: 司立彬
地址: 100049 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 pet 电子学 数据处理 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种PET电子学数据处理方法,其步骤包括:

1)利用FPGA接收模拟ASIC芯片的配置数据,FPGA的采集参数配置模块根据所述配置数据配置该模拟ASIC芯片的工作参数,使该模拟ASIC芯片的工作状态符合PET成像电子学处理的要求;其中所述采集参数配置模块根据所述配置数据配置该模拟ASIC芯片的工作参数的方法为:所述采集参数配置模块包括第一配置发送模块、第一配置接收模块和第一比较模块;第一配置发送模块读取所述配置数据并将其重复2次发送到该模拟ASIC芯片的第一配置模块;第一配置发送模块第2次发送所述配置数据的同时,第一配置接收模块接收该模拟ASIC芯片的第一配置模块发送的配置数据;当第一配置发送模块完成第2次的配置数据发送时,第一配置接收模块同步完成接收来自该第一配置模块发送的配置数据;第一比较模块判断第一配置发送模块发送的配置数据和第一配置接收模块接收到的配置数据是否相同,如果相同,则该模拟ASIC芯片的配置参数配置成功,否则判断该模拟ASIC芯片的配置参数配置失败;

2)利用FPGA接收模拟ASIC芯片的调试参数,FPGA的调试参数配置模块根据所述调试参数配置该模拟ASIC芯片内部要输出的信号测试点,如果该模拟ASIC芯片内部要输出信号测试点的输出信号满足PET电子学处理的要求则进行步骤3),否则修改并重新配置该模拟ASIC芯片的工作参数;其中所述调试参数配置模块根据所述调试参数配置该模拟ASIC芯片内部要输出的信号测试点的方法为:所述调试参数配置模块包括第二配置发送模块、第二配置接收模块和第二比较模块;第二配置发送模块读取所述调试参数并将其重复2次发送到该模拟ASIC芯片的第二配置模块,第二配置发送模块第2次发送调试参数的同时,第二配置接收模块接收该第二配置模块发送的调试参数;当第二配置发送模块完成第2次的调试参数发送时,第二配置接收模块同步完成接收来自第二配置模块发送的调试参数;第二比较模块判断第二配置发送模块发送的调试参数和第二配置接收模块接收到的调试参数是否相同,如果相同,则该模拟ASIC芯片的调试参数配置成功,否则配置失败;

3)利用数据获取与处理模块获取该模拟ASIC芯片串行输出的N路电荷、时间数据,并将其转换为N路并行数据,然后提取每路的电荷、时间数据并添加相应的通道编号;然后将每路的电荷、时间数据解码转换成二进制格式的电荷、时间数据,然后对N路电荷、时间数据进行N:1的数据预处理后输出。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述模拟ASIC芯片为32通道Petiroc2a芯片。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述进行N:1的数据预处理的方法为:将N路电荷、时间数据在同一时钟上升沿输入数据传输模块,然后在接下来的N个时钟周期内,每次时钟上升沿数据传输模块输出1路电荷、时间数据,经过N个时钟周期,完成数据传输模块N:1的数据预处理。

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