[发明专利]一种反射率检测设备及其检测方法有效
申请号: | 201810448675.0 | 申请日: | 2018-05-11 |
公开(公告)号: | CN108645794B | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 林虹云;王俐;夏振宇;孙志恒;张小新 | 申请(专利权)人: | TCL华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/552 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 反射率 检测 设备 及其 方法 | ||
1.一种反射率检测设备,其特征在于,包括检测箱体和压片固定件,所述检测箱体包括光路连通的光源、检测室和积分球单元,所述检测箱体一侧壁上设有一通孔,所述积分球单元设有一检测口,所述检测口固定在所述侧壁上并贯穿所述通孔,所述压片固定件包括一压片基板和设置于所述压片基板一侧的吸附件,所述吸附件与一负压装置相连接,所述负压装置用于为所述吸附件提供吸附力以固定吸附待测样品,所述吸附件与所述检测口活动贴合;所述压片基板与所述检测箱体之间设有弹性件,所述弹性件用于使所述吸附件可伸缩压合所述检测口。
2.如权利要求1所述的反射率检测设备,其特征在于,所述压片固定件固定吸附待测样品并使所述待测样品与所述检测口紧密贴合。
3.如权利要求1所述的反射率检测设备,其特征在于,所述吸附件包括凸出所述压片基板的真空吸附台,所述真空吸附台上设有至少一个垂直于所述真空吸附台台面的吸气孔。
4.如权利要求3所述的反射率检测设备,其特征在于,所述真空吸附台内部设有一间隔空腔,所述间隔空腔连通所述吸气孔,所述间隔空腔与所述负压装置通过导气管相连。
5.如权利要求3或4所述的反射率检测设备,其特征在于,所述吸气孔为多个,多个所述吸气孔均匀排布在所述真空吸附台台面上。
6.如权利要求1所述的反射率检测设备,其特征在于,所述负压装置固定在所述检测箱体上,所述负压装置与所述检测箱体间设有缓冲件。
7.如权利要求1所述的反射率检测设备,其特征在于,所述反射率检测设备还设有遮光罩,所述遮光罩罩设所述压片固定件和所述检测口。
8.一种光学检测装置,其特征在于,包括如权利要求1-7任意一项所述的反射率检测设备。
9.采用如权利要求1-7任意一项所述反射率检测设备的检测方法,其特征在于,包括:
(1)提供待测样品,开启所述负压装置,将所述待测样品通过所述吸附件固定在所述压片固定件上并准确贴合所述检测口;
(2)对所述待测样品进行检测,检测完毕后,将所述压片固定件脱离所述检测口;停止所述负压装置,将所述待测样品从所述吸附件上取下。
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