[发明专利]三浮平台系统的定基座框架角精度测试方法有效

专利信息
申请号: 201810391011.5 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN108613684B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 王蕾;刘毕炎;万少巍 申请(专利权)人: 北京航天控制仪器研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C21/18
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 庞静
地址: 100854 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 平台 系统 基座 框架 精度 测试 方法
【权利要求书】:

1.三浮平台系统的定基座框架角精度测试方法,所述的三浮平台系统包括平台本体和电路箱,电路箱为平台本体提供电信号;其特征在于步骤如下:

(1)将平台本体放在有地基隔离的台面上,台面水平度在1′以内,在平台本体与电路箱之间接入转接盒;

(2)将恒流源上电,设置恒流源输出电流大小-40mA,使各个框架角反转且转动速率在0°/s~10°/s之间并达到稳定状态,分别输出至各个框架角的加矩信号点;步骤(2)中的等待时间≥30分钟;

(3)平台顺序加电,等待各个框架角达到稳定状态;所述的框架角包括外环轴、随动轴、台体轴;

(4)在转接盒上断开平台加矩输入通路,并接通恒流源加矩输入通路,恒流源输入连入各个框架角的加矩输入点,记录外环轴、随动轴、台体轴的整圈输出;所述整圈的含义为各个框架角从0度到360度转动一圈的k倍,k的取值范围2到10的整数倍;

(5)将外环轴、随动轴、台体轴的输出与时间拟合成的线性关系,并求出残差,即为各个框架角的精度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述的拟合采用最小二乘法或者线性拟合方法。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(5)中拟合的线性关系满足下列关系式:p(t)=a*t+b,p(t)为拟合后的框架角曲线,t为时间,a,b为变量。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:各个框架角精度计算公式为:

θx=max(Attx(tk)-px(tk));

θy’=max(Atty’(tk)-py’(tk));

θz=max(Attz(tk)-pz(tk));

其中,θx、θy’、θz为各个框架角精度,Attx(tk)、Atty’ (tk)、Attz(tk)为从平台本体采集的tk时刻的各个框架角的输出,px(t)、py’(t)、pz(t)为各个框架角拟合后的曲线;tk是第0秒至测试结束时刻各个框架角的采样时间点。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(4)中通过在平台本体的外环轴、随动轴以及台体轴上安装角度传感器,将采集得到的角度传感器的粗、精通道测量值进行耦合计算得到相应的框架角。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(2)中将各框架角锁定至0°并稳定。

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