[发明专利]一种太赫兹时域光谱系统及操作方法在审

专利信息
申请号: 201810383530.7 申请日: 2018-04-26
公开(公告)号: CN108844913A 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 徐德;丁宇洁;王燕茹;冉铮惠 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院计量测试中心
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586;G01J3/433
代理公司: 北京盈天科地知识产权代理有限公司 11645 代理人: 任丽娜
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 锁相放大器 探测器 背景信号 抛物面镜 分束镜 太赫兹时域光谱系统 延迟模块 反射镜 斩波器 光路 计算机 自由空间传输 飞秒激光器 数据线连接 发射器 测量过程 光纤耦合 同步测量 样品测试 样品信号 传输
【权利要求书】:

1.一种太赫兹时域光谱系统,其特征在于,包括飞秒激光器(1)、斩波器(2)、M1分束镜(3)、THz发射器(4)、H1抛物面镜(5)、N1反射镜(6)、N2反射镜(7)、H2抛物面镜(8)、M2分束镜(9)、延迟模块(10)、Q1 THz探测器(11)、THz分束镜(12)、H3抛物面镜(13)、Q2 THz探测器(14)、锁相放大器(15)和计算机(16),所述延迟模块(10)与计算机(16)之间、斩波器(2)与锁相放大器(15)之间、Q1 THz探测器(11)与锁相放大器(15)之间、Q2 THz探测器(14)与锁相放大器(15)之间、锁相放大器(15)与计算机(16)之间采用数据线连接,其余部分为光路部分,采用自由空间传输或光纤耦合传输;飞秒激光经所述M1分束镜(3)分为A1泵浦光和A2探测光,所述A2探测光穿过延迟模块(10)后经M2分束镜(9)一路传递给Q2 THz探测器(14),另一路经N1反射镜(6)和N2反射镜(7)传递给Q1探测器(11);所述A1泵浦光进入THz发射器(4)后激发THz发射器(4)产生太赫兹波,太赫兹波经H1抛物面镜(5)准直后再由THz分束镜(12)进行光路分束,一路为样品测量光路经H3抛物面镜(13)进入Q2THz探测器(14),另一路为背景测量光路经H2抛物面镜(8)进入Q1 THz探测器(11)。

2.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域光谱系统,其特征在于:所述THz发射器(4)选用光电导天线,主要用于在飞秒脉冲激光激励下产生太赫兹辐射波。

3.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域光谱系统,其特征在于:所述Q1 THz探测器(11)、Q2 THz探测器(14)选择ZnTe晶体,主要用于太赫兹波探测。

4.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域光谱系统,其特征在于:所述延迟模块(10)为机械式扫描延迟线,用于产生一系列的光程差。

5.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域光谱系统的操作方法,其特征在于:

a)采用功率计对飞秒激光器(1)的输出功率进行监测,根据THz发射器(4)的要求将飞秒激光器(1)的输出功率调节至合适位置;

b)将飞秒激光器(1)输出的飞秒激光通过斩波器(2),斩波器(2)的频率一般设置为3kHz;

c)采用M1分束镜(3)将通过斩波器(2)的飞秒激光分为两束,一束作为A1泵浦光激发THz发射器(4)产生太赫兹脉冲信号,另一束作为A2探测光进入延迟模块(10);

d)THz发射器(4)发出的太赫兹脉冲经THz分束镜(12)分为透射太赫兹波和反射太赫兹波,透射太赫兹波用于样品测量,反射太赫兹波用于背景测量;

e)背景测量光路和样品测量光路上的太赫兹波分别被H2抛物面镜(8)和H3抛物面镜(13)聚焦后分别入射至Q1 THz探测器(11)和Q2 THz探测器(14),经延迟模块(10)后的探测光也共线进入Q1 THz探测器(11)和Q2 THz探测器(14);

f)将Q1 THz探测器(11)和Q2 THz探测器(14)的电输出端口产生的电压信号直接连接到锁相放大器(15)的两个信号输入端口;

g)将斩波器(2)的电信号输出端连接到锁相放大器(15)的参考信号输入端,以将斩波器(2)的调制频率作为锁相放大器(15)的参考信号对采样信号进行解调;

h)计算机(16)控制延迟模块(10)按照设定的步进量进行移动,使探测光产生一系列递增的光程差,同时控制锁相放大器(15)对每次步进的Q1 THz探测器(11)和Q2 THz探测器(14)输出的电信号进行采样;

i)通过延迟模块(10)整个行程的步进式扫描,计算机(16)可以采样得到太赫兹脉冲的时域波形。

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