[发明专利]一种天线校正方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201810379734.3 申请日: 2018-04-25
公开(公告)号: CN108599876B 公开(公告)日: 2021-07-27
发明(设计)人: 魏蕾;李茵 申请(专利权)人: 西北农林科技大学
主分类号: H04B17/12 分类号: H04B17/12;H04B17/21
代理公司: 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 代理人: 叶树明
地址: 712100 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 天线 校正 方法 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种天线校正方法,其特征在于,所述方法包括:

接收基带处理单元发送的校正指令,所述校正指令包括校正参数,所述校正参数包括射频拉远单元的数量以及与所述每个射频拉远单元对应的校正天线数量;

根据所述校正指令生成第一校正序列;

将所述第一校正序列发送给射频拉远单元,以使得所述射频拉远单元将所述第一校正序列发送给对应的校正天线;

接收所述射频拉远单元反馈的第二校正序列,所述第二校正序列是所述每个校正天线接收所述第一校正序列得到的;

根据所述第一校正序列和所述第二校正序列,计算得到第三校正序列;

将所述第三校正序列发送给所述射频拉远单元;

所述根据所述校正指令生成第一校正序列包括:

根据所述校正指令,按照频域和时域两个维度生成等分相位的第一校正序列;所述频域维度是指将所述每个校正天线按照不同相位排列,所述时域维度是指将所述每个天线按照不同优先级排列;

其中,所述根据所述第一校正序列和所述第二校正序列,计算得到第三校正序列包括:

计算所述第一校正序列和所述第二校正序列的相位差,得到所述校正天线的幅值变化矩阵;

根据所述幅值变化矩阵获取校正影响权值,所述校正影响权值包括硬件差异权值和路损权值;

根据所述校正影响权值计算得到所述每个校正天线的校正系数;

根据所述校正参数和所述校正系数计算得到第三校正序列。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述幅值变化矩阵获取校正影响参数包括:

对所述幅值变化矩阵进行分解得到非线性权值矩阵,所述非线性权值矩阵中包括所述校正影响权值;

对所述非线性权值矩阵按照频域和时域进行计算,得到所述每个校正天线的路损权值;

根据所述非线性权值矩阵和所述每个校正天线的路损权值,计算得到所述每个校正天线的硬件差异权值。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

发送校正完成信息给所述基带处理单元,以使得所述基带处理单元根据所述校正完成信息启动业务流程。

4.一种天线校正装置,其特征在于,包括:

接收模块,用于接收基带处理单元发送的校正指令,所述校正指令包括校正参数,所述校正参数包括射频拉远单元的数量以及与所述每个射频拉远单元对应的校正天线数量;

生成模块,用于根据所述校正指令生成第一校正序列;

发送模块,用于将所述第一校正序列发送给射频拉远单元,以使得所述射频拉远单元将所述第一校正序列发送给对应的校正天线;

所述接收模块,用于接收所述射频拉远单元反馈的第二校正序列,所述第二校正序列是所述每个校正天线接收所述第一校正序列得到的;

计算模块,用于根据所述第一校正序列和所述第二校正序列,计算得到第三校正序列;

所述发送模块,用于将所述第三校正序列发送给所述射频拉远单元;

所述生成模块,用于根据所述校正指令,按照频域和时域两个维度生成等分相位的第一校正序列;所述频域维度是指将所述每个校正天线按照不同相位排列,所述时域维度是指将所述每个天线按照不同优先级排列;

其中,所述计算模块包括:

计算子模块,用于计算所述第一校正序列和所述第二校正序列的相位差,得到所述校正天线的幅值变化矩阵;

获取子模块,用于根据所述幅值变化矩阵获取校正影响权值,所述校正影响权值包括硬件差异权值和路损权值;

所述计算子模块,用于根据所述校正影响权值计算得到所述每个校正天线的校正系数;

所述计算子模块,用于根据所述校正参数和所述校正系数计算得到第三校正序列。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述获取子模块包括:

分解单元,用于对所述幅值变化矩阵进行分解得到非线性权值矩阵,所述非线性权值矩阵中包括所述校正影响权值;

计算单元,用于对所述非线性权值矩阵按照频域和时域进行计算,得到所述每个校正天线的路损权值;

所述计算单元,用于根据所述非线性权值矩阵和所述每个校正天线的路损权值,计算得到所述每个校正天线的硬件差异权值。

6.一种天线校正系统,其特征在于,包括:基带处理单元、至少一个射频拉远单元和权利要求4~5中任一项所述的天线校正装置,所述基带处理单元通过所述天线校正装置与所述每个射频拉远单元连接。

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