[发明专利]X射线系统及X射线管检查方法有效
申请号: | 201810374336.2 | 申请日: | 2018-04-24 |
公开(公告)号: | CN108882491B | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 米泽哲也 | 申请(专利权)人: | 佳能电子管器件株式会社 |
主分类号: | H05G1/34 | 分类号: | H05G1/34 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 殷明;俞丹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 系统 检查 方法 | ||
本发明的X射线系统根据一个实施方式包括:具有灯丝的X射线管(10),该灯丝中流过与管电流相应的灯丝电流;监视所述灯丝电流的灯丝电流监视部(20);监视所述管电流的管电流监视部(30);以及对X射线曝光时的所述管电流是否处于规定的设定幅度内进行检查的检查部(40)。
对于相关申请的交叉引用
本申请基于且主张2017年5月1日提交的在先日本专利申请No.2017-091327的优先权,其所有内容通过引用包含在本申请中。
技术领域
本发明主要涉及X射线系统及X射线系统中使用的X射线管的检查方法。
背景技术
X射线系统被用于医用(诊断/治疗)、工业用非破坏检查、材料分析等多种用途。X射线系统中使用的X射线管采用如下结构:使来自阴极灯丝的电子束撞击阳极靶来产生X射线。
X射线管中,通过灯丝的加热来获得成为管电流(对应于撞击靶的电子束)源的热电子。灯丝的加热通过使适当的电流在灯丝中流动来进行。若由于X射线管的实际使用时间的累积等导致灯丝的热电子发射能力(发射量)下降,或者X射线管的真空管内真空度下降,则管电流会减小到适当范围以外,从而无法获得所需的X射线输出。
以往存在监视管电流并控制灯丝电流的X射线管自动校正系统、检测X射线照射异常的消耗电流监视系统。然而,这些系统中并不存在对管电流与灯丝电流的关系是否处于适当的范围进行检查的功能。
发明内容
发明所要解决的技术问题
本发明所要解决的问题是提供能够预测X射线管的寿命的X射线系统及X射线检查方法。
解决技术问题的技术方案
总体来说,根据一个实施方式,提供一种X射线系统,包括:具有灯丝的X射线管,该灯丝中流过与管电流相应的灯丝电流;监视所述灯丝电流的灯丝电流监视部;监视所述管电流的管电流监视部;以及对X射线曝光时的所述管电流是否处于规定的设定幅度内进行检查的检查部。
根据另一个实施方式,提供一种X射线检查方法,
能够在X射线系统中使用,该X射线系统包括:具有灯丝的X射线管,该灯丝中流过与管电流相应的灯丝电流;监视所述灯丝电流的灯丝电流监视部;监视所述管电流的管电流监视部;以及对X射线曝光时的所述管电流是否处于规定的设定幅度内进行检查的检查部,
对与X射线曝光时的所述灯丝电流相对应地得到的所述管电流是否处于规定的设定幅度内进行检查。
发明效果
所述X射线系统中,一直(或定期地)监视(监控)管电流及灯丝电流,对管电流是否处于适当范围内进行适当的判断。基于该判断结果,能够预测X射线管的真空管寿命。
附图说明
图1是说明一个实施方式所涉及的X射线管的“管电流与灯丝电流”的关系的图。
图2是说明一个实施方式所涉及的X射线系统(使用单灯丝X射线管)的主要部分结构的图。
图3是说明另一个实施方式所涉及的X射线系统(使用双灯丝X射线管)的主要部分结构的图。
图4是说明图3的X射线系统中能使用的双灯丝X射线管的一个示例的图。
图5是说明图3的X射线系统中能使用的双灯丝X射线管的另一个示例的图。
图6是说明图2或图3的X射线系统的动作例的流程图。
具体实施方式
下面,参照附图,说明实施方式所涉及的X射线系统及X射线管检查方法。另外,以下的说明中所举出的数值只是示例,而并非限定本申请的实施方式。
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