[发明专利]一种PCB裸板图片配准方法和装置

权利要求书

1.一种PCB裸板图片配准方法，其特征在于，包括：

S1：获取PCB裸板的待配准图片；

S2：提取预置参考图片的任意一个第一特征区域，根据所述第一特征区域和预置定位误差范围确定所述待配准图片的搜索区域，并以所述第一区域特征区域为模板根据模板匹配算法在所述搜索区域中精确定位第二特征区域；

S3：提取所述第二特征区域的第二SIFT特征点，并提取所述第一特征区域的第一SIFT特征点，根据预置算法对所述第二SIFT特征点和所述第一SIFT特征点进行特征点匹配，剔除错误匹配的特征点，得到至少一组第二特征点和至少一组第一特征点；

S4：根据所述第一特征点和所述第二特征点通过预置公式计算所述待配准图片与所述预置参考图片的单应性矩阵，并根据所述单应性矩阵对所述待配准图片进行仿射变换，得到配准图片。

2.根据权利要求2所述的PCB裸板图片配准方法，其特征在于，步骤S1具体包括：

S11：获取PCB裸板的待配准图片，对所述待配准图片进行亮度矫正。

3.根据权利要求2所述的PCB裸板图片配准方法，其特征在于，步骤S4之后还包括：

S5：根据XOR算法对所述配准图片与所述预置参考图片进行差分运算，根据差分运算结果与预置指标判断所述PCB裸板是否存在外观缺陷，若所述差分运算结果满足预置指标，则判断为所述PCB裸板不存在外观缺陷，若所述差分运算结果不满足预置指标，则判断为所述PCB裸板存在外观缺陷，其中，所述预置指标具体为：连通域像素面积和连通域区域灰度平均值和连通域轮廓点最远两点间的距离。

4.根据权利要求1所述的PCB裸板图片配准方法，其特征在于，所述预置参考图片为对所述PCB裸板的Gerber文件进行解析得到的图片。

5.根据权利要求1所述的PCB裸板图片配准方法，其特征在于，所述预置公式为：

p(x,y)＝M×p(u,v)

其中，p(x,y)是参考图片的第二特征点的像素位置矩阵，p(μ,ν)是待配准图片的第一特征点的像素位置矩阵。

6.根据权利要求1至3中任意一项所述的PCB裸板图片配准方法，其特征在于，所述预置算法为RANSAC算法。

7.一种PCB裸板图片配准装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取PCB裸板的待配准图片；

第一特征提取单元，用于提取预置参考图片的任意一个第一特征区域，根据所述第一特征区域和预置定位误差范围确定所述待配准图片的搜索区域，并以所述第一区域特征区域为模板根据模板匹配算法在所述搜索区域中精确定位第二特征区域；

第二特征提取单元，用于提取所述第二特征区域的第二SIFT特征点，并提取所述第一特征区域的第一SIFT特征点，根据预置算法对所述第二SIFT特征点和所述第一SIFT特征点进行特征点匹配，剔除错误匹配的特征点，得到至少一组第二特征点和至少一组第一特征点；

配准单元，用于根据所述第一特征点和所述第二特征点通过预置公式计算所述待配准图片与所述预置参考图片的单应性矩阵，并根据所述单应性矩阵对所述待配准图片进行仿射变换，得到配准图片。

8.根据权利要求7所述的PCB裸板图片配准装置，其特征在于，所述获取单元具体用于：

获取PCB裸板的待配准图片，对所述待配准图片进行亮度矫正。

9.根据权利要求8所述的PCB裸板图片配准装置，其特征在于，还包括：

匹配单元，用于根据XOR算法对所述配准图片与所述预置参考图片进行差分运算，根据差分运算结果与预置指标判断所述PCB裸板是否存在外观缺陷，若所述差分运算结果满足预置指标，则判断为所述PCB裸板不存在外观缺陷，若所述差分运算结果不满足预置指标，则判断为所述PCB裸板存在外观缺陷，其中，所述预置指标具体为：连通域像素面积和连通域区域灰度平均值和连通域轮廓点最远两点间的距离。

10.根据权利要求7所述的PCB裸板图片配准装置，其特征在于，所述预置参考图片为对所述PCB裸板的Gerber文件进行解析得到的图片。