[发明专利]一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法

权利要求书

1.一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、采用溶剂擦拭待测陶瓷涂覆隔膜表面，直至露出基膜得到隔膜a；

S2、将隔膜a分为对照组和至少一个实验组，再将实验组升温至120-140℃，保温0.8-1.2h，得到隔膜b；

S3、将隔膜b进行称重，计算其面积，计算基膜基重；

S4、将隔膜b制成待测样品，喷金，置于扫描电子显微镜样品仓中，拍摄基膜形貌以判断待测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下的状态；

S1中，溶剂为酒精或水。

2.根据权利要求1所述用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法，其特征在于，S1中，待测陶瓷涂覆隔膜为新鲜陶瓷涂覆隔膜或循环后拆解所得陶瓷涂覆隔膜。

3.根据权利要求1所述用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法，其特征在于，S2中，实验组为3组，分别升温至120℃、130℃、140℃。