[发明专利]一种阵列基板、阵列基板母板及显示装置

说明书

本申请提供了一种阵列基板、阵列基板母板及显示装置，其中阵列基板母板包括由切割线分成的第一测试区域和第二测试区域，第二测试区域内设置有多个测试单元，测试单元包括测试短路棒以及连接在测试短路棒上的多条信号线，测试短路棒用于向信号线输入检测信号；各测试单元的测试短路棒之间通过串接线依次串接，串接线跨越所述切割线；通过相同的测试短路棒进行切割工艺之前的Array测试和切割工艺之后的Cell测试，因此，测试短路棒本身的不良在Array测试阶段可以被检测出来，避免流入下一道工序，避免在Cell测试阶段出现因测试短路棒自身不良导致的点灯画面异常，进而提高Cell测试阶段的产能和良品率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种阵列基板、阵列基板母板及显示装置。

背景技术

目前，在TFT-LCD检测领域，广泛采用短路棒(Shorting Bar)点灯的方式。由于其治具简单且点灯稳定，可有效降低运营成本及维护成本。然而，由于Cell测试短路棒与Array测试短路棒是分立设置的，在Array测试阶段无法检测出Cell测试短路棒上的过孔ITO开路不良等，导致具有Cell测试短路棒不良的阵列基板进入下一工序，进而在Cell测试阶段出现点灯画面异常(如X-Line不良等)，严重影响Cell测试阶段的产能和良品率。

发明内容

本发明提供一种阵列基板、阵列基板母板及显示装置，以提高Cell测试阶段的产能和良品率。

为了解决上述问题，本发明公开了一种阵列基板母板，包括由切割线分成的第一测试区域和第二测试区域，所述第二测试区域内设置有多个测试单元，所述测试单元包括测试短路棒以及连接在所述测试短路棒上的多条信号线，所述测试短路棒用于向所述信号线输入检测信号；

各所述测试单元的所述测试短路棒之间通过串接线依次串接，所述串接线跨越所述切割线，分布在所述第一测试区域和所述第二测试区域。

可选地，所述第一测试区域设置有多个第一信号输入端子，串接的所述测试短路棒中，首位的测试短路棒和末位的测试短路棒通过引线连接至对应的所述第一信号输入端子，所述引线跨越所述切割线；

所述第一测试区域设置有多个第二信号输入端子，各所述测试短路棒还分别与对应的所述第二信号输入端子连接。

可选地，所述测试短路棒包括第一短路棒和第二短路棒，所述信号线包括交替排布的第一信号线和第二信号线，

所述第一短路棒与所述第一信号线连接，所述第二短路棒与所述第二信号线连接。

可选地，所述第一短路棒与所述第一信号线同层设置并连接；所述第二短路棒与所述第二信号线非同层设置并连接。

可选地，所述第一短路棒、所述第一信号线以及所述第二信号线与所述阵列基板母板的栅极层同步形成，所述第二短路棒与所述阵列基板母板的数据线同步形成。

可选地，所述第二短路棒与所述第二信号线通过金属层架桥连接。

可选地，所述金属层通过第一过孔与所述第二短路棒连接，通过第二过孔与所述第二信号线连接。

可选地，所述第一过孔和所述第二过孔在第一方向上的尺寸大于或等于18μm，且小于或等于20μm；在与所述第一方向垂直的方向上的尺寸大于或等于28μm，且小于或等于32μm。

为了解决上述问题，本发明还公开了一种阵列基板，所述阵列基板为由上述任一项所述的阵列基板母板沿所述切割线切割得到的包含所述第二测试区域的基板。

为了解决上述问题，本发明还公开了一种显示装置，包括上述的阵列基板。

与现有技术相比，本发明包括以下优点：