[发明专利]一种自适应的RAID分组计算方法和装置

说明书

本发明提供了一种自适应的RAID分组计算方法和装置，通过获得介质制造商提供的先验错误关联；根据产品性能介质控制器获得介质的第一约束；根据所述先验错误关联与第一约束，获得条带分组公式，其中所述条带分组公式包括一系列可调整参数；根据所述可调整参数选择任意合理参数为起始值与所述第一约束，获得第一RAID分组公式；根据所述第一RAID分组公式建立存储器的系统级别测试，记录测试中发生的介质错误信息；根据所述介质错误信息获得测试错误关联模式，其中，将所述错误关联模式作为第二约束；根据所述先验错误关联、第一约束、可调整参数与第二约束获得第二RAID分组公式。解决现有技术中RAID设计没有综合考虑存储系统级别上的错误模式的技术问题。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种自适应的RAID分组计算方法和装置。

背景技术

RAID是存储介质控制器中常见的纠错方式。通常地,它将介质上的数据按地址划分为若干条带(stripe),并为每个条带生成一组冗余信息。当条带中的某一个地址的数据发生错误,RAID可以利用这个冗余信息纠正该错误。

但本申请发明人在实现本申请实施例中发明技术方案的过程中，发现上述技术至少存在如下技术问题：

现有技术中RAID设计主要考虑源自介质设计上的错误关联,而没有综合考虑存储系统级别上的错误模式。

发明内容

本发明实施例提供了一种自适应的RAID分组计算方法和装置，解决现有技术中RAID设计主要考虑源自介质设计上的错误关联,而没有综合考虑存储系统级别上的错误模式的技术问题，实现了能够在介质设计的错误关联基础上,充分利用系统级别测试中发现的新的错误关联,实现RAID的综合设计,以使RAID在系统级别上实现错误率最低的技术效果。

鉴于上述问题，提出了本申请实施例以便提供一种自适应的RAID分组计算方法和装置。

第一方面，本发明提供了一种自适应的RAID分组计算方法，所述方法包括：

获得介质制造商提供的先验错误关联；根据产品性能介质控制器获得介质的第一约束；根据所述先验错误关联与第一约束，获得条带分组公式，其中所述条带分组公式包括一系列可调整参数；根据所述可调整参数选择任意合理参数为起始值与所述第一约束，获得第一RAID分组公式；根据所述第一RAID分组公式建立存储器的系统级别测试，记录测试中发生的介质错误信息；根据所述介质错误信息获得测试错误关联模式，其中，将所述错误关联模式作为第二约束；根据所述先验错误关联、第一约束、可调整参数与第二约束获得第二RAID分组公式。

优选地，所述方法还包括：所述可调整参数的参数值设定在合理值域范围。

优选地，根据所述可调整参数选择任意合理参数为起始值与所述第一约束，获得第一RAID分组公式，还包括：根据所述可调整参数、条带分组公式获得RAID失败概率表达式；极小化所述RAID失败概率表达式计算得出参数的合理数值，即所述合理参数。

优选地，根据所述介质错误信息获得测试错误关联模式，其中，将所述错误关联模式作为第二约束，还包括：根据所述介质错误信息获得同一介质上的所有错误地址的信息；根据所述错误地址的信息频繁模式挖掘，获得地址上的错误关联模式及发生概率。

第二方面，本发明提供了一种自适应的RAID分组计算装置，所述装置包括：

第一获得单元，所述第一获得单元用于获得介质制造商提供的先验错误关联关系；

第二获得单元，所述第二获得单元用于根据产品性能介质控制器获得介质的第一约束；

第三获得单元，所述第三获得单元用于根据所述先验错误关联关系与第一约束，获得条带分组公式，其中所述条带分组公式包括一系列可调整参数；