[发明专利]微流控芯片荧光检测设备、方法以及装置

权利要求书

1.一种微流控芯片荧光检测设备，其特征在于，包括处理器、照明光源以及连接所述处理器的荧光检测模块、图像采集模块；还包括位于微流控芯片和所述图像采集模块之间的无限远校正光学系统；

所述无限远校正光学系统将采集到的、流经所述微流控芯片的管道的样品发出的荧光信号传输给所述荧光检测模块；所述荧光检测模块将所述荧光信号转换为数字信号，并传输给所述处理器；

所述图像采集模块通过所述无限远校正光学系统采集、所述照明光源照射所述微流控芯片时所述样品的实时图像，并将所述实时图像传输给所述处理器；其中，所述照明光源的中心波长大于所述荧光信号的波长；

所述处理器根据所述数字信号，对所述样品进行荧光检测分析，并根据所述实时图像，对所述样品进行流动状态分析。

2.根据权利要求1所述的微流控芯片检测设备，其特征在于，还包括连接所述处理器的位移平台；所述位移平台包括第一电机和第二电机；所述第一电机、所述第二电机的一端连接所述处理器，另一端连接芯片载物台；

所述处理器根据获取到的管道定位指令驱动所述第一电机转动；转动中的所述第一电机带动所述载物台移动，直至所述图像采集模块基于清晰度评价算法、通过所述无限远校正光学系统获取到所述微流控芯片的管道的当前最佳成像位置；

所述处理器根据所述当前最佳成像位置，以及所述当前最佳成像位置处所述微流控芯片的管道相对预设图像中心点的距离，驱动所述第二电机转动；转动中的所述第二电机带动所述芯片载物台移动，直至所述微流控芯片的管道与所述预设图像中心点重合。

3.根据权利要求1所述的微流控芯片检测设备，其特征在于，所述无限远校正光学成像系统包括显微物镜和套筒透镜；

所述显微物镜将激发光聚焦形成用于激发所述样品发出的所述荧光信号的光斑，并将采集到的所述荧光信号传输给所述荧光检测模块；

所述套筒透镜用于将所述显微物镜采集的所述实时图像成像于所述图像采集模块中。

4.根据权利要求3所述的微流控芯片检测设备，其特征在于，还包括位于所述显微物镜与所述套筒透镜的光路之间的激发光源模块、第二二色向镜；所述激发光源模块包括第一激光器、第二激光器、第一二色向镜以及合束镜；

所述第一激光器通过所述合束镜、所述第一二色向镜，将第一激发光传输给所述显微物镜；所述第二激光器通过所述合束镜、所述第一二色向镜，将第二激发光传输给所述显微物镜；

所述套筒透镜依次通过所述显微物镜、所述第一二色向镜、所述第二二色向镜将所述实时图像传输给所述图像采集模块。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的微流控芯片荧光检测设备，其特征在于，所述荧光检测模块包括第一荧光探测器、第二荧光探测器、第一滤光片、第二滤光片、第一收集透镜、第二收集透镜以及荧光分束镜；所述第一荧光探测器、所述第二荧光探测器分别与所述处理器连接；

所述荧光分束镜依次通过所述第一二色向镜、所述第二二色向镜将所述荧光信号分束为第一荧光信号以及第二荧光信号；

所述第一收集透镜通过所述第一滤光片将所述第一荧光信号传输给所述第一荧光探测器；所述第一荧光探测器将所述第一荧光信号传输至所述处理器；

所述第二收集透镜通过所述第二滤光片将所述第二荧光信号传输给所述第二荧光探测器；所述第二荧光探测器将所述第二荧光信号传输至所述处理器。

6.根据权利要求5所述的微流控芯片荧光检测设备，其特征在于，还包括连接所述微流控芯片的液路系统；

所述液路系统向所述微流控芯片的管道加载所述样品。

7.根据权利要求5所述的微流控芯片荧光检测设备，其特征在于，所述图像采集模块为高速相机。