[发明专利]一种测量天线的工作参数的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201810271405.7 申请日: 2018-03-29
公开(公告)号: CN108627706B 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 吴洋;高超;白杨;莫崇江;孔德旺;李宁;吕明 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 周娇娇;张沫
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 天线 工作 参数 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种测量天线的工作参数的方法,其特征在于,包括:

将待测天线放置到测量位置,在所述测量位置将所述待测天线调整至待测极化,并控制金属定标球由第一指定位置直线运动至第二指定位置;

检测所述待测天线在所述金属定标球的运动过程中,金属定标球位于至少两个采样位置时,所述待测天线相对于所述金属定标球在各个所述采样位置时的第一回波强度数据;

确定各个所述采样位置在极坐标系下所分别对应的极角,其中,所述极坐标系以所述测量位置为极点,所述极坐标系的极轴垂直于所述第一指定位置和所述第二指定位置所在直线,且所述极坐标系的极轴与所述第一指定位置和所述第二指定位置所在直线存在交点;

根据各个所述采样位置所分别对应的第一回波强度数据及极角,对各个所述采样位置分别进行距离补偿以确定各个所述采样位置所分别对应的第一等效回波强度数据;

根据各个所述采样位置所分别对应的第一等效回波强度数据及极角,确定所述待测天线的方向图;

所述根据各个所述采样位置所分别对应的第一等效回波强度数据及极角,确定所述待测天线的方向图,包括:

通过如下第二公式计算所述待测天线的非归一方向图在各个所述采样位置所分别对应的第一回波数据;

第二公式:

其中,Ei表征所述待测天线的非归一方向图在第i个所述采样位置所对应的第一回波数据、ETi表征第i个所述采样位置所对应的第一等效回波强度数据;

从各个所述第一回波数据中确定出所述待测天线的待测天线最大回波数据,并根据所述待测天线最大回波数据对各个所述采样位置所分别对应的第一回波数据进行归一化处理,以获取各个所述采样位置所分别对应的归一化数据;

根据各个所述采样位置所分别对应的极角及归一化数据确定所述待测天线的方向图;

还包括:将增益已知的标定天线放置到所述测量位置,在所述测量位置将所述标定天线调整至所述待测极化,并控制所述金属定标球由所述第一指定位置直线运动至所述第二指定位置;

检测所述标定天线在所述金属定标球的运动过程中,金属定标球位于各个所述采样位置时,所述标定天线相对于所述金属定标球在各个所述采样位置的第二回波强度数据;

根据各个所述采样位置所分别对应的第二回波强度数据及极角,对各个所述采样位置分别进行距离补偿以确定各个所述采样位置所分别对应的第二等效回波强度数据;

计算所述标定天线的非归一方向图在各个所述采样位置所分别对应的第二回波数据;

根据各个所述采样位置所分别对应的第二回波数据、所述待测天线最大回波数据以及所述标定天线的增益,计算所述待测天线的增益;

所述根据各个所述采样位置所分别对应的第二回波数据、所述待测天线最大回波数据以及所述标定天线的增益,计算所述待测天线的增益,包括:

从各个所述第二回波数据中确定出所述标定天线的标定天线最大回波数据;

通过如下第三公式计算所述待测天线的增益;

第三公式:

Etcdeg=Etgebmax-Ecgebmax+Ec

其中,Etcdeg表征所述待测天线的增益、Etgebmax表征所述待测天线最大回波数据、Ecgebmax表征所述标定天线最大回波数据、Ec表征所述标定天线的增益。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述根据各个所述采样位置所分别对应的第一回波强度数据及极角,对各个所述采样位置分别进行距离补偿以确定各个所述采样位置所分别对应的第一等效回波强度数据,包括:

通过如下第一公式计算各个所述采样位置所分别对应的第一等效回波强度数据;

第一公式:

其中,ETi表征第i个所述采样位置所对应的第一等效回波强度数据、Eti表征第i个所述采样位置所对应的第一回波强度数据、R0表征所述测量位置与所述第一指定位置和所述第二指定位置所在直线之间的距离、θi表征第i个所述采样位置所对应的极角。

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