[发明专利]叉轴的综合检具

说明书

本发明提供了一种叉轴的综合检具，属于机械技术领域。它解决了现有的叉轴的综合检具不能够直接测量出拨叉轴的通孔以及空挡槽的位置度尺寸且测量效率较低的问题。本叉轴的综合检具，包括底座，底座上设有定位块，定位块的上侧设有用于横向放置叉轴的V型槽，定位块的一侧设有压紧组件，底座上设有支座一且支座一上插设有位置度插销，底座上设有支座二，支座二上设有供距离插销插入的基准筒，底座上设有支座三，支座三上活动连接有基准杆，基准杆的下端部为基准部，底座上设有水平横向设置的百分表，百分表位于定位块的外侧。本叉轴的综合检具具有能够精确测量叉轴的通孔的位置度以及通孔与空挡槽的位置度且测量效率较高的叉轴的优点。

技术领域

本发明属于机械技术领域，涉及一种检具，特别是一种叉轴的综合检具。

背景技术

传统变速箱零部件尺寸检测主要利用游标卡尺、高度尺、千分尺等测量工具，导致测量效率较低，测量精度比较依赖于检测员的技术熟练程度。此外还有部分零部件的尺寸检测采用高精度仪器进行电子测量，消耗成本较高，经济性方面不能得到满足。

如中国专利文献公开的一种拨叉组件综合检具(申请号：201310123203.5)，包括底板，底板上设有两个相对设置的定位座，定位座顶部具有与拨叉轴配合的定位槽，两定位座上方分别设有可上下移动的压块，其中一端的压块底部具有卡设到拨叉轴端部V槽内的定位销形成定位基准；底板上设有两个分别检测拨叉叉脚位置的测量表；两定位座之间设有测量拨叉半圆型缺口位置的半圆型测量块；两定位座的侧面还设有叉口架端面检测卡槽以及叉口位置检测卡块。但该综合检具不能够直接测量出拨叉轴的通孔以及空挡槽的位置度尺寸且测量效率较低。

发明内容

本发明的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种能够精确测量叉轴的通孔的位置度以及通孔与空挡槽的位置度且测量效率较高的叉轴的综合检具。

本发明的目的可通过下列技术方案来实现：叉轴的综合检具,包括底座，所述的底座上设有定位块，所述的定位块的上侧设有用于横向放置叉轴的V型槽，所述的定位块的一侧设有能够将叉轴压紧在V型槽内的压紧组件，其特征在于，所述的底座上设有支座一且所述的支座一上插设有位置度插销，所述的底座上设有支座二，所述的支座二位于所述的定位块的一侧，所述的支座二上设有供距离插销插入的基准筒，所述的底座上设有支座三，所述的支座三上活动连接有基准杆，所述的基准杆的下端部为基准部，所述的底座上设有水平横向设置的百分表，所述的百分表位于所述的定位块的外侧。

工件为叉轴，本检具能够检测工件的通孔一、通孔二以及空挡槽的位置度尺寸。在检测时，将工件(叉轴)放置在定位块的V型槽上，通孔一位于支座一的一侧，通过压紧组件将工件抵压在V型槽上，在支座一上插入相应的位置度插销，并转动工件，当位置度插销能够插入到通孔一时，检测结果为通孔一的位置度符合要求，否则通孔一不符合。而后转动工件，通过相应的位置度插销对通孔二进行检测，当该位置度插销插入到通孔二后并插入到基准筒内时，检测结果为通孔二的位置度符合要求，否则通孔二不符合。当检测空挡槽与通孔二的位置度时，先压紧组件松开工件，将基准杆的基准部插入到空挡槽内，移动百分表并调零，使工件以空挡槽作为基础，而后压紧组件将工件压紧在V型槽上，并将基准杆的基准部脱离空挡槽，再将距离插销插入到通孔二以及基准筒内，距离插销的直径先大到小：如先用5.10的测量，能插入观察百分表读数，当无法插入时换5.08的，以此类推。实现检测通孔二与空挡槽的位置度，同理也可测出通孔一与空挡槽的位置度。本综合检具能够精确测量叉轴的通孔的位置度以及通孔与空挡槽的位置度且测量效率较高的优点。

在上述的叉轴的综合检具中，所述的基准杆活动连接在所述的支座三上且所述的基准杆竖直设置，所述的支座三与所述的基准杆之间设有弹簧且所述的弹簧推动所述的基准杆往下侧移动。在检测时，弹簧的弹力带动基准杆往下移，使基准部嵌入到工件的空挡槽内作为基准，待百分表调零后，提升基准杆使其基准部脱离工件的空挡槽，具有使用方便且提高了检测效率。