[发明专利]光学相干断层成像系统有效

专利信息
申请号: 201810264524.X 申请日: 2018-03-28
公开(公告)号: CN108514404B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 杨旻蔚;丁庆;沈耀春 申请(专利权)人: 深圳市太赫兹科技创新研究院;深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 潘艳丽
地址: 518102 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光学 相干 断层 成像 系统
【权利要求书】:

1.一种光学相干断层成像系统,其特征在于,包括:

光源,提供初始光;光纤耦合器,所述光纤耦合器接收所述初始光,并将所述初始光分为多路输出光,所述多路输出光包括一路参考光和一路样品光;

参考臂,用于接收所述参考光,并将所述参考光的反射光传回至所述光纤耦合器;

样品臂,用于接收所述样品光;所述样品臂利用所述样品光检测待测样品,所述样品光在所述待测样品处发生散射,产生后向散射光,所述后向散射光传回至所述光纤耦合器;所述后向散射光与所述反射光在所述光纤耦合器内发生干涉,形成干涉光;所述干涉光被所述光纤耦合器分为多路干涉光谱,所述多路干涉光谱中的每一路分别输出;所述光纤耦合器将所述干涉光分为三路干涉光谱;其中,所述三路干涉光谱中任意两路干涉光谱之间的光强相等,且所述三路干涉光谱之间的相位呈等相位差排列;

信号采集模块,分别采集各所述干涉光谱;

信号处理模块,根据各路所述干涉光谱的谱线信号生成所述待测样品的检测图像,以消除所述待测样品的成像干扰;

所述系统还包括光纤环形器;所述光纤环形器具有第一端口、第二端口和第三端口;

所述光纤耦合器具有三个输入端;所述三个输入端分别为第一输入端、第二输入端、第三输入端;

其中,所述第一端口与所述光源连接,用于接收所述初始光;所述第二端口与所述第一输入端连接,所述第二端口用于将所述光纤环形器所接收的所述初始光传输至所述光纤耦合器;一路干涉光谱依次经过所述第一输入端传输、所述第二端口和所述第三端口传输至所述信号采集模块;另一路所述干涉光谱由所述第二输入端传输至所述信号采集模块;还有一路所述干涉光谱由所述第三输入端传输至所述信号采集模块。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括光路选择模块,所述光路选择模块选择在不同时刻接收各路所述干涉光谱,并将各路所述干涉光谱分别传输至所述信号采集模块。

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述光路选择模块是电控光开关。

4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述参考臂包括第一准直透镜和反射镜,所述反射镜与所述第一准直透镜的光轴垂直;所述第一准直透镜将所述参考光转变为平行光;所述平行光入射至所述反射镜,且入射角为0°;所述反射镜将所述平行光反射形成所述反射光。

5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述反射镜相对于所述第一准直透镜的距离可调节。

6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述样品臂包括第二准直透镜和探测物镜,所述第二准直透镜和所述探测物镜构成共焦光路;所述第二准直透镜将所述样品光转变为平行光;该平行光经由所述探测物镜形成探测光会聚至所述待测样品上,所述探测光在所述待测样品上散射形成的所述后向散射光经过所述共焦光路传回至所述光纤耦合器。

7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述第二准直透镜和所述探测物镜的光轴垂直;

所述样品臂还包括扫描振镜;所述扫描振镜同时设置于所述第二准直透镜和所述探测物镜的光轴上;所述第二准直透镜出射的平行光由所述扫描振镜反射至所述探测物镜;所述第二准直透镜的平行光相对于所述扫描振镜的入射角可调节。

8.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述光源是超宽带光源,所述初始光为低相干光;所述信号采集模块是光谱仪。

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