[发明专利]一种基于光学几何变换的矢量光测量装置有效
| 申请号： | 201810253913.2 | 申请日： | 2018-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN108303180B | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 李朝晖;肖文达;杨继顺;刘志兵;高社成;熊松松 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00;G02B27/28;G02B5/30 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 陈伟斌 |
| 地址： | 510275 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 几何 变换 矢量 测量 装置 | ||
1.一种基于光学几何变换的矢量光测量装置，其特征在于，包括测量器件主体(1)，单模光纤(2)、光功率计(3)，所述单模光纤(2)在测量器件主体(1)的一端，光功率计(3)与单模光纤(2)相连，并可直接读取单模光纤输出光功率；所述测量器件主体(1)是一个集成光学器件，它包括液晶偏振光栅(1.1)，光学几何变换区(1.2,1.3)、相位补偿聚焦区(1.4,1.5)、光束整形区(1.6,1.7)；光学几何变换区(1.2,1.3)、相位补偿聚焦区(1.4,1.5)、光束整形区(1.6,1.7)为等间距分布。
2.根据权利要求1所述的一种基于光学几何变换的矢量光测量装置，其特征在于：所述的测量器件主体(1)中液晶偏振光栅(1.1)由液晶制作，光学几何变换区(1.2,1.3)、相位补偿聚焦区(1.4,1.5)、光束整形区(1.6,1.7)的任一个由玻璃或陶瓷或晶体或有机聚合物透明材料制作。
3.根据权利要求1所述的一种基于光学几何变换的矢量光测量装置，其特征在于：所述的测量器件主体可将矢量光分离成两束圆偏振涡旋光，并通过测量这两束涡旋光的拓扑荷，最终测得矢量光的偏振拓扑阶数。
4.根据权利要求1所述的一种基于光学几何变换的矢量光测量装置，其特征在于：所述的单模光纤(2)数量为多个，单模光纤的数量可根据需要变化。
5.根据权利要求1所述的一种基于光学几何变换的矢量光测量装置，其特征在于：所述的测量器件主体(1)输入矢量光为任意频率。
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