[发明专利]一种基于位移测量的微型薄膜试件疲劳裂纹监测方法有效
| 申请号： | 201810248226.1 | 申请日： | 2018-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN108593469B | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 尚德广;吕帅;张海萌;张宇;李道航;李冰垚 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01N3/32 | 分类号： | G01N3/32;G01N3/06 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 沈波 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 位移 测量 微型 薄膜 疲劳 裂纹 监测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于位移测量的微型薄膜试件疲劳裂纹监测方法，其特征在于：该方法的实现包括如下过程：
步骤1)将位移传感器安装在微型薄膜试件的夹持部分；
步骤2)对微型薄膜试件进行疲劳加载，通过位移传感器记录在每个循环内的最大位移和最小位移，分别记为Dmax、Dmin；
步骤3)计算Dmax和Dmin的差值ΔDn+1，先在800-1500个循环内找稳定，即：Δn＝ΔDn+1-ΔDm，m＝k时n＝k,k+1,k+2,...,n，Δn的值在800-1500个循环内的值基本在同一个数量级，则将ΔDm记为稳定值，将稳定值ΔDm作为评估微型薄膜试件缺口部位危险点附近疲劳裂纹的萌生与扩展评估参量；
步骤4)考察裂纹评估参量ΔDm的值；Δn＝ΔDn+1-ΔDm，m＝k时n＝k,k+1,k+2,...,n当Δn大于等于在800-1500个循环内的同一数量级数中的最大值时，表征微型薄膜试件缺口部位危险点附近有裂纹萌生。
2.根据权利要求1所述的一种基于位移测量的微型薄膜试件疲劳裂纹监测方法，其特征在于：所述步骤1)中，位移传感器不需和微型薄膜试件直接接触，避免对微型试件造成损伤，扩大了使用范围。
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