[发明专利]一种改善混响室均匀性的方法和装置

权利要求书

1.一种改善混响室均匀性的方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过双因素方差分析法，对影响所述混响室场均匀特性的两个因素，搅拌叶片长宽比、搅拌叶片夹角进行建模分析，确定影响大的因素为第一因素、影响小的因素为第二因素；

对所述第一因素进行优化，得到第一因素优化值；

在所述第一因素优化值基础上，对所述第二因素进行优化，得到第二因素优化值；

确定所述第一、第二因素优化值的组合为所述混响室的最优设计值；

根据所述混响室的均匀性监测频段设置多个监测频点；

分别对每个所述监测频点计算所述最优设计值；

对每个所述监测频点的最优设计值进行统计平均，得到监测频段的所述混响室的最优设计值。

2.如权利要求1所述的改善混响室均匀性的方法，其特征在于，所述通过双因素方差分析法，对影响所述混响室场均匀特性的两个因素，搅拌叶片长宽比、搅拌叶片夹角进行建模分析，确定影响大的因素为第一因素、影响小的因素为第二因素的步骤，进一步包含：

分别对所述搅拌叶片长宽比、搅拌叶片夹角两个因素进行位级分解，并将所述搅拌叶片长宽比的位级与所述搅拌叶片夹角的位级进行组合，建立试验正交表；

对所述试验正交表的每个组合的场均匀性观测值进行记录，得到试验数据；

根据所述试验数据，计算得到所述搅拌叶片长宽比和所述搅拌叶片夹角的均方和；

根据所述均方和数据，确定第一因素、第二因素为：当所述搅拌叶片长宽比均方和大于等于所述搅拌叶片夹角的均方和时，确定所述搅拌叶片长宽比为第一因素，所述搅拌叶片夹角为第二因素，当所述搅拌叶片长宽比均方和小于所述搅拌叶片夹角的均方和时，确定所述搅拌叶片夹角为第一因素，所述搅拌叶片长宽比为第二因素。

3.如权利要求2所述的改善混响室均匀性的方法，其特征在于，所述根据试验数据，计算得到所述搅拌叶片长宽比和所述搅拌叶片夹角的均方和的步骤，进一步包含：

根据所述试验数据建立模型为：

X_ij＝μ+α_i+β_j+ε_ij,i＝1,...,k；j＝1,...,m

α₁+...+α_k＝0

β₁+...+β_m＝0

其中，X_ij为所述搅拌叶片夹角因素的第i个位级与所述搅拌叶片长宽比的第j个位级组合的试验观测值，μ为X_ij的均值，α_i为所述搅拌叶片夹角因素的第i个位级的效应，β_j是所述搅拌叶片长宽比的第j个位级的效应，ε_ij是试验误差，相互独立且服从分布N(0,σ²)；

计算得到所述搅拌叶片长宽比和所述搅拌叶片夹角的均方和、自由度为：

f_T＝k*m-1

f_A＝k-1

f_B＝m-1

f_E＝(m-1)*(k-1)

其中，S_T为总平方和，k为所述搅拌叶片夹角的位级个数，i为所述搅拌叶片夹角的位级序号，m为所述搅拌叶片长宽比的位级个数，j为所述搅拌叶片长宽比的位级序号，X_ij为所述搅拌叶片夹角因素的第i个位级与所述搅拌叶片长宽比的第j个位级组合的试验观测值，是所述观测值的均值，A为所述搅拌叶片夹角，B为所述搅拌叶片长宽比，S_A为所述搅拌叶片夹角的效应平方和，f_T为总的自由度，是所述搅拌叶片夹角第i个位级的均值，f_A为所述搅拌叶片夹角的自由度，S_B为所述搅拌叶片长宽比的效应平方和，f_B为所述搅拌叶片长宽比的自由度，是所述搅拌叶片长宽比第j个位级的均值，S_E为误差均方和，MS_A为所述搅拌叶片夹角的均方和，MS_B为搅拌叶片长宽比的均方和。