[发明专利]测量角膜参数的系统校准方法及装置

权利要求书

1.一种测量角膜参数的系统校准方法，其特征在于，所述方法包括步骤：

1)提供一标定块，所述标定块为透明长方体；所述标定块的折射率已知，所述折射率为1.376；

2)裂隙灯光路垂直照射于所述标定块，形成一个光学横截面，相机以偏离裂隙光路α角度进行拍摄采集该光学横截面图像，确保所述光学横截面的四个角点均在相机视角内；和

3)采用几何畸变校正法对图像进行校准，根据所述光学横截面的四个角点的真实坐标，求得聚焦清晰状态下图像中每个像素所代表的实际距离，从而用于图像角膜厚度到真实角膜厚度的转换。

2.一种测量角膜参数的系统校准装置，其特征在于，所述装置包括：标定块、裂隙灯系统、相机、和数据处理单元；

其中，所述标定块为透明长方体；所述裂隙灯系统被设置用于发射光路垂直照射于所述标定块，形成一个光学横截面；确保所述光学横截面的四个角点均在所述相机的视野内；所述相机被设置用于以偏离裂隙光路α角度进行拍摄采集该光学横截面图像，该角度和测量角膜相关参数时的拍摄角度相同，并将拍摄获得的图像传输至数据处理单元；所述数据处理单元依据拍摄获得的横截面图像，采用几何畸变校正法对图像进行校准，根据所述光学横截面的四个角点的真实坐标，求得聚焦清晰状态下图像中每个像素所代表的实际距离，从而用于图像角膜厚度到真实角膜厚度的转换；

所述标定块的折射率已知，所述折射率为1.376。