[发明专利]一种取向硅钢叠片损耗计算方法及系统

权利要求书

1.一种取向硅钢叠片损耗计算方法，其特征在于，包括：

获取待测磁化工况信息、取向硅钢叠片的总有效质量m和所述取向硅钢叠片的单片厚度d、温度T及密度ρ；

获取磁化工况中波形为正弦时所述取向硅钢叠片的比总损耗测试数据，并根据所述比总损耗测试数据确定磁滞损耗计算系数；

根据所述计算系数及所述待测磁化工况信息，计算所述取向硅钢叠片的磁滞损耗；

根据所述待测磁化工况信息、单片厚度d、温度T及密度ρ，计算所述取向硅钢叠片的涡流损耗；

根据所述总有效质量m、所述磁滞损耗及所述涡流损耗计算所述取向硅钢叠片的总损耗；

所述根据所述待测磁化工况信息、单片厚度d、温度T及密度ρ，计算所述取向硅钢叠片的涡流损耗，包括：

按照如下公式计算所述取向硅钢叠片的涡流损耗P_e：

其中，d为单片取向硅钢叠片厚度，T为取向硅钢叠片温度，ρ为取向硅钢片密度，n为所述待测磁化工况信息中的谐波次数，B_n为所述待测磁化工况信息中的第n次谐波幅值，f为所述待测磁化工况信息中的频率，P_e为涡流损耗计算值。

2.根据权利要求1所述的取向硅钢叠片损耗计算方法，其特征在于，所述获取磁化工况中波形为正弦时所述取向硅钢叠片的比总损耗测试数据，并根据所述比总损耗测试数据确定磁滞损耗计算系数，包括：

获取多个频率下所对应的涡流损耗的计算值；

根据所述比总损耗测试数据及各所述计算值，得到各所述频率所对应的磁滞损耗的测量值；

根据各所述测量值与各所述频率确定磁滞损耗的计算系数。

3.根据权利要求2所述的取向硅钢叠片损耗计算方法，其特征在于，所述获取多个频率下所对应的涡流损耗的计算值，包括：

按照如下公式计算涡流损耗的计算值

其中，i为所述多个频率的个数，B′为磁密幅值，f′_i为第i个频率，K_e为涡流损耗系数，为第i个频率所对应的涡流损耗的计算值。

4.根据权利要求3所述的取向硅钢叠片损耗计算方法，其特征在于，所述根据所述比总损耗测试数据及各所述计算值，得到各所述频率所对应的磁滞损耗的测量值，包括：

按照如下公式计算磁滞损耗的测量值

其中，i为所述多个频率的个数，P′为所述比总损耗测试数据，为第i个频率所对应的涡流损耗的计算值，为第i个频率所对应的磁滞损耗的测量值。

5.根据权利要求4所述的取向硅钢叠片损耗计算方法，其特征在于，所述根据各所述测量值与各所述频率确定磁滞损耗的计算系数，包括：

将多个频率对应的测量值代入如下公式进行拟合，确定磁滞损耗的计算系数K_h、α及β：

其中，K_h、α、β为磁滞损耗的计算系数，i为所述多个频率的个数，为第i个频率所对应的磁滞损耗的测量值，B′为磁密幅值，f′_i为第i个频率。

6.根据权利要求5所述的取向硅钢叠片损耗计算方法，其特征在于，所述根据所述计算系数及所述待测磁化工况信息，计算所述取向硅钢叠片的磁滞损耗，包括：

按照如下公式计算磁滞损耗P_h：

其中，q为所述待测磁化工况信息中的局部磁滞回环个数，B_minor，q为所述待测磁化工况信息中的局部回环的峰峰值，K_h、α、β为所述计算系数，B为所述待测磁化工况信息中的磁密幅值，f为所述待测磁化工况信息中的频率，P_h为磁滞损耗计算值。