[发明专利]用于检测LED封装缺陷的光学检测设备

说明书

本发明涉及一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备。它包括有机架，其上固定有X向轨道，X向轨道上滑动配合有与其垂直设置的Y向轨道，Y向轨道上滑动配合有用于搭载LED支架的载台，且载台上的LED支架的正反面为外露设置，机架上且位于载台的可移动区域内固定有镜头朝下的第一拍摄装置和镜头朝上的第二拍摄装置，第一拍摄装置和第二拍摄装置为同轴线设置，所述载台的高度为介于第一拍摄装置和第二拍摄装置之间，机架上且位于载台的可移动区域内还设有竖直设置且可上下运动的顶出杆。本发明是基于整个LED支板操作，拍摄装置可同时拍摄样品的正反面，检测效率高。样品处于静止状态，使得检测准确度大幅提升。

技术领域

本发明涉及一种光学检测设备，尤其是涉及一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备。

背景技术

自动光学（缺陷）检测机在半导体芯片，封装器件和电路印刷版等各个行业是广泛使用的检测设备，用于检测产品外观，以及关键尺寸是否合规的一类设备。随着半导体产业升级，产品精致化，严格化，已经新的封装技术，涂层技术，相关材料科学的进步和升级，自动光学（缺陷）检测机在物理光学照明和成像手段、测量操作方式和软件算法上都有更新和升级。

过往的应用于LED灯珠封装的自动光学缺陷检测机一直采取对单颗LED灯珠进行逐个检验的形式，例如将LED支架上的LED灯珠扣下来后，将其摆放在精度要求低的旋转运动台，在LED灯珠旋转走行过程中，在多个测量位置使用照明和摄像装置抓取LED灯珠的不同集合面，再利用简单算法来甄别LED的优劣。这种运动方式极大的限制了图像成像高精度要求画质要求，导致图像识别缺陷判断准确性受限，同时也限制了测量速度的提高。

发明内容

本发明提供了一种测量速度快精度高的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备；解决现有技术中存在检测精准度不高、检测速度低下的问题。

本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：它包括机架，其上固定有水平设置的X向轨道，X向轨道上滑动配合有与其垂直设置的Y向轨道，Y向轨道上滑动配合有用于搭载LED支架的载台，且载台上的LED支架的正反面为外露设置，机架上且位于载台的可移动区域内固定有镜头朝下的第一拍摄装置和镜头朝上的第二拍摄装置，第一拍摄装置和第二拍摄装置为同轴线设置，所述载台的高度为介于第一拍摄装置和第二拍摄装置之间，机架上且位于载台的可移动区域内还设有竖直设置且可上下运动的顶出杆，顶出杆为高于载台所在高度，所述的机架上还设有辅助照明装置。Y向轨道可沿着X向轨道前后移动，驱动方式可选用直线电机，同时Y向轨道上的载台可左右移动，在载台可移动区域内还设有第一拍摄装置和第二拍摄装置，载台上的LED支架的正反面为外露设置，载台可带动LED支架抵达第一拍摄装置和第二拍摄装置对应的拍摄位置，在辅助照明装置的配合下，可同时完成对LED支架正反面的拍摄，系统可自动检测出LED支架上不合格的灯珠，然后载台带动LED支架抵达顶出杆的工作位置，系统可依次调整载台的位置，使其上的不合格灯珠对准顶出杆，顶出杆向下运动，将该灯珠顶出LED支架，直至除去所以不合格灯珠。本发明是基于整个LED支板操作，拍摄装置可同时拍摄样品的正反面，检测效率高。同时拍摄时，样品处于静止状态，拍摄精确度高，使得检测准确度大幅提升。

作为优选，所述机架上且位于载台可移动区域的前侧设有可上下滑动的上料盒，上料盒内可纵向叠放LED支架，机架上还设有可将LED支架向后推出上料盒的推杆。上料盒位于载台可移动区域的前侧，上料盒内纵向叠放有相互等间距摆放的LED支架，上料盒可由电机或气缸控制调整其高度，将其上未检测的LED支架依次调整至与载台等高设置，然后推杆可将该LED支架从上料盒内推动至载台上。因此该发明具有自动上料功能，有助于提高检测速率。

作为优选，所述的载台为上下双层结构，可由气缸控制上下开合，且载台的上下面均设有拍摄窗口。载台为上下双层结构，样品放置在中间空间内，气缸控制双层结构开合，保证样品的稳固性。同时载台的上下面均设有拍摄窗口，通过拍摄窗口可看见样品正反面上的所有LED灯珠。