[发明专利]用于检测LED封装缺陷的光学检测设备在审
| 申请号： | 201810116592.1 | 申请日： | 2018-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN108284078A | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | 连程杰;朱干军 | 申请（专利权）人： | 义乌臻格科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 | 代理人： | 陈迪 |
| 地址： | 322000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 拍摄装置 载台 光学检测设备 可移动区域 检测 滑动配合 轨道 正反面 同轴线设置 垂直设置 静止状态 上下运动 竖直设置 准确度 顶出杆 内固定 有机架 外露 朝上 支板 镜头 拍摄 | ||
1.一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：它包括机架（1），其上固定有水平设置的X向轨道（2），X向轨道（2）上滑动配合有与其垂直设置的Y向轨道（3），Y向轨道（3）上滑动配合有用于搭载LED支架的载台（4），且载台（4）上的LED支架的正反面为外露设置，机架（1）上且位于载台（4）的可移动区域内固定有镜头朝下的第一拍摄装置（51）和镜头朝上的第二拍摄装置（52），第一拍摄装置（51）和第二拍摄装置（52）为同轴线设置，所述载台（4）的高度为介于第一拍摄装置（51）和第二拍摄装置（52）之间，机架（1）上且位于载台（4）的可移动区域内还设有竖直设置且可上下运动的顶出杆（6），顶出杆（6）为高于载台（4）所在高度，所述的机架（1）上还设有辅助照明装置（7）。
2.根据权利要求1所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：所述机架（1）上且位于载台（4）可移动区域的前侧设有可上下滑动的上料盒（8），上料盒（8）内可纵向叠放LED支架，机架（1）上还设有可将LED支架向后推出上料盒（8）的推杆（9）。
3.根据权利要求1或2所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：所述的载台（4）为上下双层结构，可由气缸控制上下开合，且载台的上下面均设有拍摄窗口（41）。
4.根据权利要求1所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：所述的推杆（9）可整体上下运动，其头部设有可与LED支架钩合的钩子（91）。
5.根据权利要求2所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：所述的机架（1）上且位于X向轨道（2）的下侧设有工作台（13），工作台（13）的上表面为光洁的水平面，工作台（13）上且位于顶出杆（6）的正下方开设有上下贯通的排料口（15）。
6.根据权利要求5所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：所述工作台（13）与机架（1）之间垫有隔震块（14）。
7.根据权利要求5所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：所述的顶出杆（6）和推杆（9）均由气缸驱动。
8.根据权利要求2所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：所述的上料盒（8）由电机驱动。
9.根据权利要求6所述的用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：所述的机架（1）上设有集成支架（10），第一拍摄装置（51）、顶出杆（6）和辅助照明装置（7）均装配在集成支架（10）上。
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