[发明专利]中阶梯光栅型空间外差拉曼光谱仪光路结构有效

专利信息
申请号: 201810109855.6 申请日: 2018-02-05
公开(公告)号: CN108458787B 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 李晓天;杨国军;齐向东;唐玉国;马振予;吉日嘎兰图;王耕;赵络欣 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J3/44 分类号: G01J3/44;G01N21/65
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 赵勍毅
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 阶梯光栅 空间外差 拉曼光谱仪 准直反射镜 拉曼光 聚焦反射镜 拉曼滤光片 屋脊反射镜 光路结构 干涉光 探测器 光阑 衍射 照射 紫外拉曼光谱 拉曼散射光 平面反射镜 无运动部件 测量波段 垂直照射 反射镜 分辨率 光通量 入射 反射 平行
【权利要求书】:

1.一种中阶梯光栅型空间外差拉曼光谱仪光路结构,其特征在于,包括:

前置成像系统,所述前置成像系统包括拉曼滤光片、准直反射镜;

干涉仪,所述干涉仪位于所述前置成像系统的后侧,所述干涉仪包括中阶梯光栅、屋脊反射镜、平面反射镜,所述屋脊反射镜倾斜地位于中阶梯光栅的上侧,所述平面反射镜倾斜地位于中阶梯光栅的下侧,所述屋脊反射镜、所述平面反射镜以及中阶梯光栅的延伸线分别相交形成一个三角形;

其中,所述中阶梯光栅设有第一反射部及第二反射部,所述第二反射部自所述第一反射部向下延伸形成;

后置成像系统,所述后置成像系统位于所述干涉仪的前侧且位于前置成像系统后侧,所述后置成像系统包括聚焦反射镜、光阑;

接收系统,所述接收系统位于所述后置成像系统的上方,所述接收系统包括探测器。

2.如权利要求1所述的中阶梯光栅型空间外差拉曼光谱仪光路结构,其特征在于:沿所述拉曼滤光片的出射光线方向放置所述准直反射镜,沿所述准直反射镜的出射光线方向上放置所述中阶梯光栅,沿所述中阶梯光栅的第一次衍射光线方向上放置所述屋脊反射镜和所述平面反射镜,所述中阶梯光栅的第一次衍射光线分别经过所述屋脊反射镜和所述平面反射镜后再次照射在所述中阶梯光栅的同一位置,沿所述中阶梯光栅的第二次衍射光线方向上放置所述聚焦反射镜,沿所述聚焦反射镜反射光线方向放置所述光阑,沿所述光阑出射光线方向放置所述探测器。

3.如权利要求2所述的中阶梯光栅型空间外差拉曼光谱仪光路结构,其特征在于:还包括聚焦透镜和激光器,所述聚焦透镜沿着所述激光器的光线方向放置,所述聚焦透镜的焦平面用于放置待检测物品。

4.如权利要求3所述的中阶梯光栅型空间外差拉曼光谱仪光路结构,其特征在于:所述激光器发射的激光经所述聚焦透镜后照射待检测物品,待检测物品上的任意一点经激光照射后反射或透射的光束经过所述拉曼滤光片照射在所述准直反射镜上,经所述准直反射镜反射后形成平行拉曼光,平行拉曼光垂直照射在所述中阶梯光栅,经所述中阶梯光栅的第一次衍射的正负级次拉曼光分别照射在所述屋脊反射镜和所述平面反射镜上,经所述屋脊反射镜反射的正级次拉曼光照射在所述平面反射镜,经所述平面反射镜反射的负级次拉曼光照射在所述屋脊反射镜,经所述屋脊反射镜和所述平面反射镜反射的拉曼光再次照射在所述中阶梯光栅的同一位置,再次经所述中阶梯光栅衍射后获得的空间外差拉曼干涉光,空间外差拉曼干涉光沿垂直于所述中阶梯光栅的光栅面方向射出并照射在所述聚焦反射镜,经所述聚焦反射镜反射的空间外差拉曼干涉光最后由所述探测器接收。

5.如权利要求4所述的中阶梯光栅型空间外差拉曼光谱仪光路结构,其特征在于:所述中阶梯光栅的使用级次N大于1,拉曼光谱总测量的波段范围为所述中阶梯光栅的使用级次N和所述中阶梯光栅的每个级次的测量波段范围的乘积。

6.如权利要求1所述的中阶梯光栅型空间外差拉曼光谱仪光路结构,其特征在于:所述中阶梯光栅绕着空间直角坐标系的y轴旋转一个小角度,对系统获得的干涉图作傅立叶变换后使得中阶梯光栅将不同级次的外差拉曼光谱分离。

7.如权利要求1所述的中阶梯光栅型空间外差拉曼光谱仪光路结构,其特征在于:所述光阑的内部通光部分为圆形或长方形通孔。

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