[发明专利]取向膜的检验方法及系统

说明书

本发明提供一种取向膜的检验方法及系统。该取向膜的检验方法包括：涂布单元在显示母板上形成取向膜；检验单元获取所述取向膜上不良结构的数量；检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量；控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量；控制系统根据空闲基板的数量向涂布单元投入相应数量的空闲基板；涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。本发明所提供的取向膜的检验方法及系统的技术方案，有效保证了后续显示母板上的取向膜的印刷质量，从而保证了产品质量，提高了产品的良率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种取向膜的检验方法及系统。

背景技术

近年来，随着移动应用型薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-LiquidCrystal Display，简称：TFT-LCD)产品的广泛使用，新型液晶面板产品不断被开发出来，人们对液晶显示面板的显示品质要求也越来越高。薄膜晶体管液晶显示器凭借其具有的高分辨率、高色彩饱和度、反应速度快及高开口率等优点成为新一代显示器件，广泛应用于手机等电子产品中。其中，在TFT-LCD的制程中，TFT-LCD主要通过将TFT阵列基板和彩膜基板(CF)对盒形成。

在TFT-LCD的制程中，若某张显示母板存在的不良结构数量较多，在取向膜(polyimidefilm，简称：PI)涂布机(Coater)工艺中进行PI液涂覆时，部分不良结构会粘至转印版(Asahikasei Photosensitive Resin Plate，简称：APR版)上，影响了后续的显示母板的PI印刷质量，导致产品质量和良率的下降。

发明内容

本发明提供一种取向膜的检验方法及系统，用于有效保证产品质量和提高产品的良率。

为实现上述目的，本发明提供了一种取向膜的检验方法，该取向膜的检验方法包括：

涂布单元在显示母板上形成取向膜；

检验单元获取所述取向膜上不良结构的数量；

检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量；

控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量；

控制系统根据空闲基板的数量向所述涂布单元投入相应数量的空闲基板；

涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。

可选地，所述检验单元获取所述取向膜上不良结构的数量包括：

检验单元对显示母板进行拍照，获得显示母板图像；

检验单元根据显示母板图像统计出所述取向膜上不良结构的数量。

可选地，所述检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量包括：

所述检验单元对不良结构的数量和预设不良结构阈值的比值进行取整计算，生成空闲基板的投入参考量。

可选地，所述控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量之前包括：

所述控制系统判断所述空闲基板的投入参考量大于或等于0；

所述控制系统若判断出所述空闲基板的投入参考量大于0时，执行所述控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量的步骤。

可选地，所述控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量包括：所述控制系统将所述空闲基板的投入参考量确定为空闲基板的数量。

为实现上述目的，本发明提供一种取向膜的检验系统，该取向膜的检验系统包括涂布单元、检验单元和控制系统；

所述涂布单元用于在显示母板上形成取向膜；在空闲基板上形成空闲膜层；