[发明专利]物体尺寸测量方法、装置和系统在审
申请号: | 201810078723.1 | 申请日: | 2018-01-26 |
公开(公告)号: | CN108240793A | 公开(公告)日: | 2018-07-03 |
发明(设计)人: | 胡正;朱毅宁;王磊刚;洪锦奇 | 申请(专利权)人: | 广东美的智能机器人有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张润 |
地址: | 528311 广东省佛山市顺德区北*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 物体尺寸测量 拍摄参数 相机 标定图像 初始图像 待测物体 单位像素 目标图像 目标像素 测量 采集 计算目标像素 自动尺寸测量 尺寸测量 尺寸信息 目标轮廓 预设算法 标定板 高效率 矫正 申请 应用 | ||
本申请公开了一种物体尺寸测量方法、装置和系统,其中,方法包括:通过相机采集标定板在测量平台上不同位置的多张标定图像;根据多张标定图像确定相机的拍摄参数,并根据拍摄参数计算与单位像素对应的物理长度;通过相机采集待测物体的初始图像,并根据拍摄参数对初始图像进行矫正处理生成目标图像;应用预设算法从目标图像中提取与目标轮廓对应的目标像素,并计算目标像素的数量;根据目标像素的数量以及与单位像素对应的物理长度,计算待测物体的尺寸信息。由此,避免人工进行物体尺寸测量导致的测量精度和效率不高的技术问题,提供了一种自动尺寸测量方式,实现了对物体的高精度高效率的尺寸测量。
技术领域
本申请涉及工业生产技术领域,尤其涉及一种物体尺寸测量方法、装置和系统。
背景技术
通常在工业生产中,为了保证生产的产品质量,需要对生产质量进行测量,比如,对生产的物体的寿命、磨损耐性、尺寸测量等。其中,对物体的尺寸测量精度直接影响到产品的质量和稳定性,比如,对密封高压锅的密封圈的测量精度,直接影响到高压锅的性能等。
相关技术中,对物体的尺寸测量依赖于千分尺、游标卡尺、轮廓测量仪等接触式测量工具,以及,显微镜、投影仪、CNC影像仪等非接触式工具,比如,在对密封圈物体进行尺寸测量时,常采用制作特定的工装模具对准物体内外进行接触式测量判断误差,使用锥棒测量小规格物体的内圈直径,使用柔性尺测量较大规格的物体的内圈直径。
然而,无论使用上述那种测量工具进行测量,都不是专业的视觉测量工具,且测量方式依赖于人工,在进行大规模的检测时,不仅耗时长、精度不高、劳动强度大,检测结果还会受到个人主观因素的影响,测量精度较低。
申请内容
本申请提供一种物体尺寸测量方法、装置和系统,以解决人工进行物体尺寸测量导致的测量精度和效率不高的技术问题。
本申请实施例提供一种物体尺寸测量方法,包括以下步骤:通过相机采集标定板在测量平台上不同位置的多张标定图像;根据所述多张标定图像确定所述相机的拍摄参数,并根据所述拍摄参数计算与单位像素对应的物理长度;通过所述相机采集待测物体的初始图像,并根据所述拍摄参数对所述初始图像进行矫正处理生成目标图像;应用预设算法从所述目标图像中提取与目标轮廓对应的目标像素,并计算所述目标像素的数量;根据所述目标像素的数量以及与所述单位像素对应的物理长度,计算所述待测物体的尺寸信息。
本申请另一实施例提供一种物体尺寸测量装置,包括:采集模块,用于通过相机采集标定板在测量平台上不同位置的多张标定图像;第一计算模块,用于根据所述多张标定图像确定所述相机的拍摄参数,并根据所述拍摄参数计算与单位像素对应的物理长度;生成模块,用于通过所述相机采集待测物体的初始图像,并根据所述拍摄参数对所述初始图像进行矫正处理生成目标图像;第二计算模块,用于应用预设算法从所述目标图像中提取与目标轮廓对应的目标像素,并计算所述目标像素的数量;第三计算模块,用于根据所述目标像素的数量以及与所述单位像素对应的物理长度,计算所述待测物体的尺寸信息。
本申请又一实施例提供一种物体尺寸测量系统,包括:相机,测量平台,相机支架,光源,工控机,其中,所述相机,测量平台,相机支架,光源均与所述工控机连接,所述工控机包括如上述实施例描述的物体尺寸测量装置。
本申请实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
通过相机采集标定板在测量平台上不同位置的多张标定图像,根据多张标定图像确定相机的拍摄参数,并根据拍摄参数计算与单位像素对应的物理长度,通过相机采集待测物体的初始图像,并根据拍摄参数对初始图像进行矫正处理生成目标图像,进而,应用预设算法从目标图像中提取与目标轮廓对应的目标像素,并计算目标像素的数量,以根据目标像素的数量以及与单位像素对应的物理长度,计算待测物体的尺寸信息。由此,避免人工进行物体尺寸测量导致的测量精度和效率不高的技术问题,提供了一种自动测量方式,实现了对物体的高精度高效率的尺寸测量。
附图说明
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