[发明专利]基于公共码表和间隔划分的测试数据压缩与解压缩方法

说明书

本发明公开了一种基于公共码表和间隔划分的数据压缩与解压缩方法，包括：A、建立0游程和1游程公共编码码字表；B、压缩（B1）读取数据，得到一个0游程或1游程；将该游程记为一个划分；（B2）判断所得划分的长度的奇偶属性，处理后得到间隔划分基础码；同时记录奇偶标志；（B3）对步骤B2所得间隔划分基础码进行间隔提取；（B4）查步骤A所得公共编码码字表，得到对应的编码码字；（B5）游程类型标志位、奇偶标志位、编码码字级联，得到最终编码；重复步骤B1至步骤B5，得压缩数据。C、解压缩。本发明采用公共码表，能够减少测试数据解压缩电路的硬件开销、进一步提高压缩率，同时采用新的编码方式能使解压硬件开销更小。

技术领域

本发明涉及计算机信息领域，具体涉及一种测试数据压缩与解压缩方法。

背景技术

与同软件产品，硬件产品投入市场之前必须经过严格测试，集成电路芯片产品也不例外。测试在整个产品的生产制造过程中的地位起来越高，测试时间的长短影响产品投入市场的时间，同时也影响产品成本。产品测试时间过长，产品测试成本逐渐上升。因此如何缩短产品测试时间，降低测试成本成为工业界和科研工作者都广泛关注的问题。

集成电路功能越来越丰富、规模越来越大，内部电路结构相应地也越来越复杂，测试芯片需要的测试数据量同样逐渐增加。日益增加的庞大的测试数据量是造成测试成本上升的重要因素之一。在不降低测试效果的前提下减少测试数据的方法主要有测试紧缩、内建自测试以及外建自测试。测试紧缩虽然能够减少测试向量数目，但紧缩后的数据量仍然很庞大，需要进一步压缩。无论是内建自测试还是外建自测试都期望需要存储的测试数据量小，因此测试数据压缩技术成为芯片测试中普遍采用并且非常关键的技术之一。测试数据压缩技术在压缩效果、硬件开销、测试应用时间等方面都具有比较显著的优势，是近年来研究者充分研究的热点。而基于编码的测试数据压缩方法又是测试数据压缩中最主要的方法之一。近年来国内外研究都对其进行了广泛深入地研究。近年来关于测试数据压缩技术的代表性的工作有：Golomb码、FDR码和交替码以及国内学者提出的Variable-Tail编码、交替与连续长度码、SVIC码、变游程码、和PTIDR编码等。这些方法都能够在较小的硬件开销下取得较好的压缩率，尤其是国内学者提出的很多方法都能在对原始的测试集未进行差分处理的情况下，取得较好的压缩率。虽然国内外学者研究都取得了一定的进展，但提高压缩率、减小解压缩的硬件开销仍值得进一步研究。

将待测试的原始二进制数据划分为游程是一种基本方法，游程包括0游程和1游程两种类型，其中0游程是指一个由至少1位的连续的0及结尾的1个1组成的字符段，1游程是指一个由至少1位的连续的1及结尾的1个0组成的字符段。在所述0游程中，连续0的位数称为游程长度；在所述1游程中，连续1的位数称为游程长度。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种基于公共码表和间隔划分的测试数据压缩与解压缩方法，其压缩效率高，硬件开销小。

为解决上述技术问题，本发明的基于公共码表和间隔划分的数据压缩与解压缩方法，包括以下步骤：

A、建立公共编码码字表

所述公共编码码字表由组号、间隔划分长度、标志位串、代码串和编码五列组成；

所述公共编码码字表生成过程如下：

（A1）从1开始以递增的方式生成有限个组号G；

（A2）将记录间隔划分长度的变量L初始化为1；

（A3）对于每个组号G，生成G组的标志位串，G组的标志位串由G-1个1和1个0组成；

（A4）对于每个组号G，分别从0到2^G-1生成2^G个编号，并将该编号转换成G位二进制代码,形成代码串，然后将代码串逐位插入步骤A3所生成的标志位串中，并使得代码串中的每一位代码字均在编码码字中的偶数位位置上，得到当前间隔划分长度L对应的编码；