[发明专利]一种基于电涡流脉冲热成像的无损检测方法及系统在审
申请号: | 201810031692.4 | 申请日: | 2018-01-12 |
公开(公告)号: | CN108195884A | 公开(公告)日: | 2018-06-22 |
发明(设计)人: | 蔡波;朱玉玉 | 申请(专利权)人: | 西南科技大学 |
主分类号: | G01N25/72 | 分类号: | G01N25/72 |
代理公司: | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人: | 张仲波 |
地址: | 621000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 被测样件 无损检测 感应加热器 加热指令 电涡流 采样 高频交流电 脉冲发生器 脉冲热成像 预先设置 热分布 加热 红外热成像图 加热脉冲信号 红外热辐射 感应线圈 启动电源 输出启动 输出停止 停止加热 指令控制 采样点 断开 电源 测量 应用 | ||
1.一种基于电涡流脉冲热成像的无损检测系统,其特征在于,包括:感应加热器、红外热像仪、处理器、脉冲发生器、感应线圈以及采样温度控制器,其中,
感应加热器在脉冲发生器输出的初始加热脉冲信号以及加热脉冲信号控制下,产生高频交流电,并通过感应线圈提供电涡流激励,以加热被测样件;在脉冲发生器输出的停止加热脉冲信号控制下,关断电源;
红外热像仪在脉冲发生器输出的初始加热脉冲信号控制下,测量被测样件的红外热辐射以获取被测样件的表面热分布,并依据表面热分布进行成像,得到红外热成像图序列,输出至处理器;
处理器对接收到的红外热成像图序列进行处理,获取被测样件的表面缺陷信息,并显示被测样件的红外热成像;
采样温度控制器,用于从所述红外热成像图序列中,获取被测样件的预定采样点的采样温度,如果所述采样温度不小于预先设置的无损检测高温阈值,向脉冲发生器输出停止加热指令,如果所述采样温度不大于预先设置的无损检测低温阈值,向脉冲发生器输出启动加热指令;
脉冲发生器,在初始启动后,输出初始加热脉冲信号以同步触发感应加热器和红外热像仪工作,在接收到停止加热指令后,向感应加热器输出停止加热脉冲信号,在接收到加热指令后,向感应加热器输出加热脉冲信号。
2.根据权利要求1所述的基于电涡流脉冲热成像的无损检测系统,其特征在于,所述采样点的数量为一个或多个,如果采样点的数量为多个,采样温度为多个采样点的温度变化均值。
3.根据权利要求1或2所述的基于电涡流脉冲热成像的无损检测系统,其特征在于,选取被测样件电涡流密度高对应的点或区域为采样点。
4.根据权利要求1或2或3所述的基于电涡流脉冲热成像的无损检测系统,其特征在于,所述无损检测低温阈值高于环境温度。
5.根据权利要求1至4任一项所述的基于电涡流脉冲热成像的无损检测系统,其特征在于,所述无损检测高温阈值与被测样件烧损温度的温差大于一常数值。
6.一种基于电涡流脉冲热成像的无损检测方法,其特征在于,包括:
通过初始加热脉冲信号控制感应加热器产生高频交流电,结合感应线圈提供电涡流激励以加热被测样件;
测量被测样件的红外热辐射以获取被测样件的表面热分布,并依据表面热分布进行成像,得到红外热成像图序列;
对红外热成像图序列进行处理,获取被测样件的预定采样点的采样温度;
如果所述采样温度不小于预先设置的无损检测高温阈值,向脉冲发生器输出停止加热指令,如果所述采样温度不大于预先设置的无损检测低温阈值,向脉冲发生器输出启动加热指令;
依据停止加热指令控制感应加热器断开电源,依据加热指令控制感应加热器启动电源产生高频交流电。
7.根据权利要求6所述的基于电涡流脉冲热成像的无损检测方法,其特征在于,所述方法还可以包括:
依据处理的红外热成像图序列,获取被测样件的表面缺陷信息,并显示被测样件的红外热成像。
8.根据权利要求6或7所述的基于电涡流脉冲热成像的无损检测方法,其特征在于,所述采样点的数量为一个或多个,如果采样点的数量为多个,采样温度为多个采样点的温度变化均值。
9.根据权利要求6或7所述的基于电涡流脉冲热成像的无损检测系统,其特征在于,选取被测样件电涡流密度高对应的点或区域为采样点。
10.根据权利要求6至9任一项所述的基于电涡流脉冲热成像的无损检测方法,其特征在于,所述无损检测低温阈值高于环境温度,所述无损检测高温阈值与被测样件烧损温度的温差大于一常数值。
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