[发明专利]用于数据储存纠错码校验提高短码字信息校验率的方法在审

专利信息
申请号: 201810030354.9 申请日: 2018-01-12
公开(公告)号: CN108595289A 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 陈育鸣;李庭育;洪振洲;魏智汎 申请(专利权)人: 江苏华存电子科技有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 校验 长码 字码 纠错码 字信息 短码 数据储存 硬体 校验位信息 保护能力 载体装置 比特数 短信息 假信息 信息位 补齐 纠错 码字 字元
【权利要求书】:

1.用于数据储存纠错码校验提高短码字信息校验率的方法,其特征在于:包括主控芯片(1)和储存介质(2),所述主控芯片(1)内设有码长控制器(3)和编解码单元(4),码长控制器(3)连接编解码单元(4),码长控制器(3)对编解码单元(4)进行参数设置,所述主控芯片(1)通过总线连接储存介质(2)。

2.根据权利要求1所述的用于数据储存纠错码校验提高短码字信息校验率的方法,其特征在于:所述码长控制器控制方法包括以下步骤:

A、码长控制器收到编译码指令;

B、若调用假码长,则调用设置的假码率,之后对假信息编译码,跳转步骤D;

C、若不调用假码长,则对基本编译码进行原始码率参数设置后,跳转步骤D;

D、编译码完成。

3.根据权利要求1所述的用于数据储存纠错码校验提高短码字信息校验率的方法,其特征在于:提高校验率的方法包括如下步骤:

A、假设原始码率R, 码长N, 校验码长度M, 资料长度K=N-M;

B、调用假码长替换码率R`, 码长N`, 校验码长度M`, 资料长度K`=N`-M`;

C、假设码率R可校正错误比特数是E, 码率R`可校正错误比特数是E`;

D、若其中N`>N, M`>M,K`>K;即R`= R, 即(K`/N`) = (K/N);(K`-K)即为硬件补齐之无加错假资料长度;但N`> N, M`> M,K`> K. 在相同解码能力条件下, 即得E`> E;

E、若其中N`> N, M`> M,K`= K;即得到R`< R, 即(K`/N`) < (K/N);亦即R`校验码长度M`占比较高故解碼能力较强;若K`= K, 亦得E`> E。

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