[发明专利]一种制备具备负电阻率电流系数材料的系统和方法有效
申请号: | 201810029771.1 | 申请日: | 2018-01-12 |
公开(公告)号: | CN108277338B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 束国刚;李承亮;陈骏;刘飞华;邓小云;段远刚 | 申请(专利权)人: | 深圳中广核工程设计有限公司;中广核工程有限公司;中国广核集团有限公司 |
主分类号: | C21D10/00 | 分类号: | C21D10/00;H01C7/04 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 蔡晓红;柯夏荷 |
地址: | 518100 广东省深圳市龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制备 具备 电阻率 电流 系数 材料 系统 方法 | ||
1.一种制备具备负电阻率电流系数材料的系统,其特征在于,包括:
映射模块(100),获取待制备材料的目标负电阻率电流系数与辐照损伤注量的映射关系;
辐照装置(200),用于放置待制备材料,利用重离子或质子源对待制备材料进行辐照,所述辐照在565K的温度下进行,所述待制备材料为锰-镍-钼系列的低合金钢,质量百分数为:锰:1.15%;镍:0.50%;钼:0.43%,其余为铁;
控制模块(300),与所述映射模块(100)和所述辐照装置(200)相连,用于根据所述映射关系,通过控制对所述待制备材料的辐照损伤注量以使所述待制备材料形成具有目标负电阻率电流系数的电阻材料;所述映射关系通过图形、表格或函数进行表现;
根据所述待制备材料的厚度选择利用重离子或质子源对待制备材料进行辐照。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述映射关系为所述待制备材料的目标负电阻率电流系数随着所述辐照损伤注量的增加而增加。
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述映射关系通过以下步骤获得:
S110、测量待制备材料的负电阻率电流系数;
S120、将所述待制备材料放入所述辐照装置(200)中,利用重离子或质子源对待制备材料进行辐照;
S130、根据辐照过程中辐照装置(200)的实际能谱和待制备材料的累计中子注量,计算待制备材料的辐照损伤注量;
S140、从所述辐照装置(200)中取出所述待制备材料,测量所述待制备材料的负电阻率电流系数;
S150、重复上述步骤S110-S140以得到所述映射关系。
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