[发明专利]一种光学模组的测试工装及头戴设备的测试方法有效
| 申请号: | 201810002466.3 | 申请日: | 2018-01-02 |
| 公开(公告)号: | CN108267300B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
| 发明(设计)人: | 马维超 | 申请(专利权)人: | 歌尔股份有限公司 |
| 主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 | 代理人: | 王昭智;马佑平 |
| 地址: | 261031 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光学 模组 测试 工装 设备 方法 | ||
本发明公开一种光学模组的测试工装及头戴设备的测试方法,包括:上压块,所述上压块设置有与光学模组对应的安装部,所述安装部中设置有影像孔,所述安装部用于承载光学模组;固定压块,所述固定压块可旋转的连接在所述上压块上,所述固定压块被配置为能将光学模组固定压合在所述安装部上;下压块,所述下压块与所述上压块固定连接,所述下压块上具有与所述影像孔位置对应的凹槽,所述凹槽用于放置影像源设备。本发明的技术方案可以避免头戴设备组装后由于光学模组性能不良进行拆机造成的资源浪费。
技术领域
本发明涉及头戴设备技术领域,更具体地,涉及一种光学模组的测试工装及头戴设备的测试方法。
背景技术
近几年来,头戴设备发展迅速,涌入了大量的厂商和研发团队,使头戴设备的实用性更高。随着头戴设备的普及,其市场的需求量也随之增长,用户对头戴设备的性能要求也越来越高。
光学模组是头戴设备中重要的组成部分,直接影响组装完成的头戴设备的性能。通常,头戴设备组装完成后,需要对其进行光学性能测试,对光学性能测试不合格的头戴设备,需要拆分来逐一排查问题产生的原因。
但是,这种逐一排查问题的方法在实际应用起来排查难度较大,不能及时判断出是哪道工序造成产品的光学性能不良。同时,对已经组装完成的头戴设备又进行拆分,降低了生产效率,增加了生产成本。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种头戴设备的测试方法的新技术方案。
根据本发明的第一个方面,提供了一种光学模组的测试工装,包括:
上压块,所述上压块设置有与光学模组对应的安装部,所述安装部中设置有影像孔,所述安装部用于承载光学模组;
固定压块,所述固定压块可旋转的连接在所述上压块上,所述固定压块被配置为能将光学模组固定压合在所述安装部上;
下压块,所述下压块与所述上压块固定连接,所述下压块上具有与所述影像孔位置对应的凹槽,所述凹槽用于放置影像源设备。
优选地,所述安装部具有凹陷区,所述影像孔位于所述凹陷区中。
优选地,所述安装部具有凸台,所述凸台位于所述凹陷区的两侧,所述凸台上形成有定位槽,所述定位槽用于容纳光学模组的定位缘。
优选地,每个所述凸台上形成有1-2个定位槽,所述定位槽呈圆形。
优选地,所述固定压块上设置有能压合在所述凸台上的凸起部。
优选地,所述凸起部上设置有定位销,在所述凸起部压合在所述凸台上时,所述定位销插入所述定位槽。
优选地,所述测试工装包括两个所述固定压块,两个所述固定压块对称设置在所述安装部的两侧。
优选地,所述上压块与所述下压块上设置有对应的装配孔,所述上压块与所述下压块通过所述装配孔连接。
根据本发明的第二个方面,提供了一种头戴设备的测试方法,包括:
将待测光学模组固定在上述实施例所述的测试工装的安装部上,待测光学模组的影像接收面朝向所述影像孔,在所述凹槽中装配影像源设备;
影像源设备投射测试影像,测试相机采集待测光学模组映出的影像;
若待测光学模组所映的影像符合测试要求,则待测光学模组装配到头戴设备。
优选地,待测光学模组安装到测试工装进行测试时,待测光学模组与影像源设备之间的相对位置与光学模组在头戴设备中与影像源的相对位置一致,待测光学模组与所述相机的相对位置与光学模组在头戴设备中与用户眼睛的相对位置一致。
本发明的技术方案可以避免头戴设备组装后由于光学模组性能不良进行拆机造成的资源浪费。
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