[发明专利]一种基于统计技术的测量过程核查方法

权利要求书

1.一种基于统计技术的测量过程核查方法，其特征是，它的步骤为：

1)检定示值误差的结果总体符合正态分布

在控制参数的建立中，以历史检定记录为样本，只有样本通过正态性检验，才能建立控制参数；在检定过程的监控中，以最近检定数据为样本，只要样本不能通过正态性检验，就认为当前检定过程为失控状态；

2)控制参数的修正时机

当测量标准装置进入一个新溯源周期时，就需要对控制参数进行重新计算；

3)在控制参数的建立中，要用历史检定记录计算控制极限，这些记录的选取应同时满足下列条件：

①.检定记录的时间应当在该测量标准装置的上一个溯源周期内；若样本数量不够，应再向前延长一个溯源周期；

②.被检件已检定合格且其型号相同；

③.被检件由同一套测量标准装置检定，且在此期间该测量标准装置的性能标准没变化；

④.检定数据是同一个检定点的检定结果；

⑤.记录数应当大于等于满足正态性检验条件的最小样本数；

4)在实际检定过程的监控中，要用最近检定记录来判定检定过程是否受控，这些记录的选取应同时满足下列条件：

①.检定记录的时间应从该测量标准装置进入新溯源周期后开始；

②.被检件已检定合格且其型号相同；

③.被检件由同一套测量标准装置检定；

④.检定数据是同一个检定点的检定结果；

⑤.从当前检定过程的时间开始倒数选取，其记录数等于满足正态性检验条件的最小样本数；

5)控制参数的建立与计算

用集合D_n＝{d₁ d₂ … d_n}表示收集到的历史检定记录，n为历史检定记录条数；

按(1)式和(2)式分别计算历史检定记录的平均值μ和实验标准偏差S

按(3)式和(4)式计算历史检定结果平均值的控制上限Y_USL和下限Y_LSL

Y_USL＝μ+δ·S (3)式

Y_LSL＝μ-δ·S (4)式

在(3)式和(4)式中，其中m为实际检定过程最近检定记录条数，t_α(n+m-2)是通过给定显著水平α查询t分布表得到；

按(5)式和(6)式计算检定结果实验标准偏差的控制上限S_USL和下限S_LSL

S_USL＝λ·S (5)式

S_LSL＝-λ·S (6)式

在(5)式和(6)式中，其中F_α(n-1，m-1)是通过给定显著水平α查询f分布表得到；

6)实际检定过程的监控

用集合D′_m＝{d′₁ d′₂ … d′_m}表示收集到的最近检定记录，m为实际检定过程最近检定记录条数；

按(7)式和(8)式分别计算最近检定记录的平均值μ′和实验标准偏差S′

在同一检定点上，当Y_LSL＜μ′＜Y_USL和S_LSL＜S′＜S_USL都成立时，则表明在当前检定点上，实际检定过程为受控状态，继续判断下一个检定点的受控情况；当所有检定点均处于受控状态时则表明当前实际检定过程为受控状态，否则为失控状态。

2.如权利要求1所述的一种基于统计技术的测量过程核查方法，其特征是，所述步骤1)中，检验正态性的方法建议采用Epps-Pulley检验法。