[发明专利]分光检测器

说明书

分光检测器包括灯罩、样本单元、光传感器、加热器、冷却风扇、温度传感器以及控制装置。加热器与收容光源的灯罩直接或间接地接触而加热灯罩。冷却风扇用于将灯罩冷却。温度传感器用于检测灯罩的温度。控制装置构成为进行光源、加热器以及冷却风扇的运行控制。控制装置具有温度控制部，所述温度控制部构成为通过基于温度传感器的检测信号至少控制加热器的输出，而将光源点亮中的灯罩的温度维持为设定温度。

技术领域

本发明涉及一种例如分光光度计或示差折光检测器等检测器(以下，将这种检测器称作“分光检测器”)，所述检测器在将来自光源的光引导到样本单元(cell)并且将来自样本单元的光引导到光传感器的光学系统中包含分光器。

背景技术

紫外可视分光光度计或分光荧光光度计、示差折光检测器等分光检测器利用氘灯(deuterium lamp)或卤素灯等随着发热而发光的灯来作为光源。分光检测器中，光源被收纳在称作灯罩(lamp house)的光源收纳零件中，包含将光引导到样本单元或光传感器的分光器的光学系统收容在与灯罩分开的收纳零件内(参照专利文献1。)。

从光源发出的光被分光器分光后由光传感器进行检测。在已导入到光学系统收容部内的光的光路上配置着样本单元，通过利用光传感器对已透过流经样本单元内的样本成分的光和从样本成分发出的荧光进行检测，来测定样本成分的吸光度和荧光强度，由此进行样本成分的鉴定和定量。

近年来，伴随检测器的通用化发展，要求检测器具有能够应对各种环境下使用的性能。特别是，对环境温度的要求高，即便在几摄氏度(℃)的环境温度发生变化的情况下，也期望能够确保稳定的基线(baseline)，其测定结果具有高再现性。

然而，氘灯或卤素灯等光源的发光量具有温度依赖性。例如，氘灯在环境温度(灯罩温度)变化10℃时，发光量约变化1％。所述变化量以吸光度换算约为4mAU。这意味着，当环境温度(灯罩温度)变化1℃时，基线变动约400μAU。

因此，提出将光源的温度控制为固定以使光源的温度不会根据环境温度而变动(参照专利文献2、专利文献3、专利文献4)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2014-048176号公报

专利文献2：日本专利特开2000-074821号公报

专利文献3：日本专利特开2005-098765号公报

专利文献4：日本专利特开2011-002310号公报

发明内容

[发明所要解决的问题]

由于用作光源的灯随着发热而发光，所以装置中设置着用于散发由光源所产生的热的冷却风扇。所述专利文献2至专利文献4中公开的技术均是通过调节冷却风扇的转速来将光源的温度维持为固定温度。

然而，在使用了冷却风扇的光源的温度控制中，存在响应性的问题，即，从冷却风扇的转速变化后直到由此引起的光源的温度变化为止需要时间。因此，存在由于环境温度急剧变动时的影响而导致光源的温度发生变动的问题。

而且，在冷却风扇的转速下，光源的温度控制范围存在极限，尤其在冷却风扇的低转速区域无法有效地控制光源的温度。

本发明鉴于所述问题完成，其目的在于能够在如分光光度计这样的分光检测器中比以前更高精度地控制光源的温度。

[解决问题的技术手段]