[发明专利]分析装置、分析系统、分析方法和程序

权利要求书

1.一种分析装置，其特征在于，包括：

质量浓度测定部，测定大气中漂浮的颗粒状物质的质量浓度；

元素分析部，分析所述颗粒状物质所含的元素；以及

产生源关联信号输出部，基于所述质量浓度测定部中的质量浓度的测定结果和所述元素分析部中的所述颗粒状物质所含的元素的分析结果，输出与所述颗粒状物质的产生源相关的信号。

2.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，

还包括存储相关数据的存储部，所述相关数据表示所述颗粒状物质所含的元素与所述颗粒状物质的质量浓度之间的相关关系，

所述产生源关联信号输出部基于所述相关数据、所述元素的分析结果和所述质量浓度的测定结果，输出与所述颗粒状物质的产生源相关的信号。

3.根据权利要求2所述的分析装置，其特征在于，

所述相关数据还包括风向数据，所述风向数据与所述颗粒状物质所含的元素和/或所述颗粒状物质的质量浓度同风向之间的相关关系相关，

所述产生源关联信号输出部基于所述风向数据，输出与所述颗粒状物质的产生源相关的信号。

4.根据权利要求1～3中任意一项所述的分析装置，其特征在于，取得与发生的现象相关的现象发生信息，并且基于取得的所述现象发生信息来设定测定条件和/或分析算法。

5.根据权利要求1～4中任意一项所述的分析装置，其特征在于，还包括元素选择部，所述元素选择部选择应由所述元素分析部进行分析的元素。

6.根据权利要求5所述的分析装置，其特征在于，如果判定为当前选择的元素未包含于所述颗粒状物质，则所述元素选择部将与所述当前选择的元素不同的元素选择为应进行所述分析的元素。

7.根据权利要求1～6中任意一项所述的分析装置，其特征在于，所述元素分析部基于实测曲线和基准曲线的比较来分析所述颗粒状物质所含的元素，所述实测曲线表示从所述颗粒状物质产生的荧光X射线的能量与所述荧光X射线的强度之间的关系，所述基准曲线表示从确定了产生来源的来源确定颗粒状物质产生的荧光X射线的能量与该荧光X射线的强度之间的关系。

8.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述产生源关联信号输出部将有关稳定状态下的所述颗粒状物质所含的元素和质量浓度的稳定数据，与所述元素的分析结果和所述质量浓度的实测数据进行比较，如果判定为所述实测数据与所述稳定数据非类似，则将用于警告的信号作为与所述颗粒状物质的产生源相关的信号输出。

9.根据权利要求1～8中任意一项所述的分析装置，其特征在于，还包括：

捕集过滤器，具有能够捕集所述颗粒状物质的捕集区域，并且所述捕集过滤器通过沿着长度方向移动而使所述捕集区域从第一位置向第二位置移动；以及

捕集部，设置成与所述第一位置对应，将大气中漂浮的所述颗粒状物质捕集到存在于所述第一位置的捕集区域，

所述质量浓度测定部测定存在于所述第一位置的捕集区域捕集到的所述颗粒状物质的质量浓度，

所述元素分析部对从所述第一位置移动到所述第二位置的捕集区域捕集到的所述颗粒状物质所含的元素进行分析。

10.一种分析系统，其特征在于，包括：

权利要求1～9中任意一项所述的分析装置；以及

服务器，能够与所述分析装置及外部进行通信，

所述分析装置的控制部和/或所述服务器取得与发生的现象相关的现象发生信息，并且基于取得的所述现象发生信息来设定所述分析装置的测定条件和/或分析算法。

11.一种分析系统，其特征在于，包括多个分析装置，所述分析装置为权利要求1～9中任意一项所述的分析装置。