[发明专利]低电压断路器设备

说明书

本发明涉及一种低电压保护开关设备(1)，其包括从低电压保护开关设备(1)的外导体供电端子(3)到低电压保护开关设备(1)的外导体负载端子(4)的至少一个外导体路径(2)和从低电压保护开关设备(1)的中性导体端子(6)到低电压保护开关设备(1)的中性导体负载端子(7)的中性导体路径(5)，布置在外导体路径(2)中的机械旁路开关(8)，并联连接到旁路开关(8)的低电压保护开关设备(1)的第一半导体电路装置(11)，位于外导体路径(2)中并且与保护开关设备(1)的电子控制单元(13)连接的电流测量装置(12)，电子控制单元(13)被设计成在借助于电流测量装置(12)检测到可预先确定的过电流、特别是短路电流时启动旁路开关(8)和第一半导体电路装置(11)。根据本发明，第一机械断路开关(9)与第一半导体电路装置(11)串联地且与旁路开关(8)并联地被布置。

技术领域

本发明涉及根据权利要求1的序言的低电压保护开关设备。

背景技术

从来自申请人的WO 2015/028634A1知道类似的保护开关设备。当保护开关设备被关掉时，旁路开关首先被断开，其中电弧产生，且电流换向到半导体电路装置上。随后，以前接通的半导体电路装置被关掉，且用于提供电流阻断的串联连接到旁路开关的断路触点被断开。

这些断路触点是必要的，以便经由在关掉状态中的半导体电路装置来防止电流泄漏。这些断路触点在接通操作中导致所涉及的开关设备的相当大的电阻和相应地导致开关设备的较高功率损耗和内热。除了两个串联开关触点对以外，电阻也借助于所需的敷设电缆和相应的触点而增加。借助于这些电阻，这样的开关设备的标称电流被限制或这在需要高标称电流时导致结构尺寸的增加。因为电流连续地流经所涉及的触点，这些触点也必须具有相应的高质量设计，其中然而电阻此时不能被避免。在永久操作中的内热确保半导体的减小的寿命。

发明内容

因此本发明的任务是提议最初提到的类型的保护开关设备，使用其，所提到的缺点可被避免，其具有低结构尺寸，实现高标称或连续电流，具有高切断能力并在长时间内具有高可靠程度。

根据本发明，这使用权利要求1的特征来实现。

因此，可形成具有低内阻的保护开关设备，作为低内阻的结果，甚至在高连续电流负载的情况下，保护开关设备的内热也保持低。借助于低内热，保护开关设备的结构尺寸也可保持小。由于保护开关设备的低内热，内部温度可保持低，作为其的结果，在保护开关设备中的半导体的寿命和可靠性增加了。

从属权利要求涉及本发明的另外的有利实施方式。

明确地引用权利要求的用词，作为其的结果，权利要求此时通过引用它们而被引入到描述内且是有效的，好像它们被逐字再现一样。

附图说明

参考附图更详细地描述本发明，其中只有优选实施方式以示例性方式示出。在这里：

图1示出根据现有技术的第一保护开关设备；

图2示出根据现有技术的第二保护开关设备；

图3示出当前保护开关设备的开关路径的第一实施方式；

图4示出当前保护开关设备的开关路径的第二实施方式；以及

图5示出当前保护开关设备的开关路径的第三实施方式。

具体实施方式