[发明专利]控制装置、显示装置、程序及检测方法有效

专利信息
申请号: 201780052646.6 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN109643206B 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 栗林英范 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: G06F3/0481 分类号: G06F3/0481;G06F3/01;G06F3/0346;G06F3/041;G06F3/0488
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 陈伟;李文屿
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 控制 装置 显示装置 程序 检测 方法
【说明书】:

基于非接触操作设定成为使电子设备工作的基准的检测基准的控制装置具备:检测部,检测出进行所述非接触操作的物体的位置;取得部,取得与所述物体相关的信息或与进行所述非接触操作的用户相关的信息;及控制部,基于所述检测部检测出的所述物体的位置和所述取得部取得的信息,执行使所述电子设备工作的控制和设定所述检测基准的控制。

技术领域

本发明涉及控制装置、显示装置、程序及检测方法。

背景技术

已知能够校正在显示画面上方检测出的操作体的三维位置的显示装置(例如专利文献1)。然而,不能够同时进行通常工作和三维位置的校正工作。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2012-98959号公报

发明内容

根据第一方式,一种控制装置,基于非接触操作来设定检测基准,所述检测基准成为使电子设备工作的基准,所述控制装置具备:检测部,对进行所述非接触操作的物体的位置进行检测;取得部,取得与所述物体相关的信息或与进行所述非接触操作的用户相关的信息;及控制部,基于所述检测部检测出的所述物体的位置和所述取得部取得的信息,执行使所述电子设备工作的控制和设定所述检测基准的控制。

根据第二方式,一种程序,其基于非接触操作设定检测基准,所述检测基准成为使电子设备工作的基准,所述程序使计算机执行:检测处理,对进行所述非接触操作的物体的位置进行检测;取得处理,取得与所述物体相关的信息或与进行所述非接触操作的用户相关的信息;及控制处理,基于在所述检测处理中检测出的所述物体的位置和在所述取得处理中取得的信息,执行使所述电子设备工作的控制和设定所述检测基准的控制。

根据第三方式,一种显示装置,其为电子设备,具备:显示部,将像显示于分离的位置;检测部,对物体相对于所述像的移动或使用者的操作进行检测;及设定部,根据用所述检测部检测出的所述物体的移动或所述使用者的操作,设定使所述电子设备工作的、成为所述物体的移动的基准的位置或成为所述使用者的操作的基准的位置。

根据第四方式,一种程序,由电子设备的计算机执行,使计算机执行如下处理:将像显示在分离的位置的处理;检测部对物体相对于所述像的移动或使用者的操作进行检测;及根据用所述检测部检测出的所述物体的移动或所述使用者的操作,设定使所述电子设备工作的、成为所述物体的移动或所述使用者的操作的基准的位置的处理。

根据第五方式,一种检测方法,将像显示在分离的位置并检测对所述像的操作,所述检测方法中,将所述像显示在分离的位置,对物体相对于所述像的移动或使用者的操作进行检测,根据所述检测出的所述物体的移动或所述使用者的操作,设定使电子设备工作的、成为所述物体的移动或所述使用者的操作的基准的位置。

附图说明

图1是说明第一实施方式的显示装置的结构的图,(a)是外观立体图,(b)是剖视图,(c)是示出成像光学系统的结构的剖视图。

图2是说明第一实施方式的显示装置的主要部分结构的框图。

图3是示意地示出在第一实施方式中显示的空中图像的图,(a)、(e)是俯视图,(b)、(c)、(d)是示出拍摄装置、空中图像及检测基准的关系的剖视图。

图4是示意地示出第一实施方式中的规定的非接触操作的例子的图。

图5是示意地示出在第一实施方式中在检测基准内检测出规定的非接触操作的情况的图。

图6是示意地示出在第一实施方式中在检测基准内没有检测出规定的非接触操作的情况的图,(a)是示出在检测基准的Z方向+侧的检测基准外检测出规定的非接触操作整体的情况的图,(b)是示出在检测基准的Z方向-侧的检测基准外检测出规定的非接触操作整体的图。

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